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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
供應(yīng)標(biāo)準試塊CSK-IIIA詳細介紹
CSK系列超聲波試塊
CSK系列超聲波試塊廣泛用于電力、石化、機械等行業(yè)的無損檢測
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊，同時供應(yīng)CSK-IA試塊支架，CSK-IIIA試塊翻轉(zhuǎn)架、CSK-IB試塊支架。
(1):CSK-IA是我國鍋爐和鋼制壓力容器對焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準規(guī)定的標(biāo)準試塊，是基于IIW試塊改進得到的。
①、臺階孔φ50、φ44、φ40，便于測定橫波斜探頭的分辨力；
②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍；
③、標(biāo)定的折射角開為K值（K=tgβ），可直接測出橫波斜探頭的K值。
(2):CSK-IIA是國家行業(yè)標(biāo)準試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。
（3）CSK-IIIA超聲波標(biāo)準試塊
型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國標(biāo)):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥＜0.05
(‖) :‖＜0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
V-1荷蘭試塊的詳細介紹
V-1荷蘭試塊
標(biāo)準試塊 IS02400-1972E
IIW試塊（V-1試塊）也叫荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會（IIW）通過，標(biāo)準化組織（ISO）推薦使用的標(biāo)準試塊。材質(zhì)：不銹鋼、鋁合金
使用要點：
1、 利用試塊厚25mm可測定探傷儀的動態(tài)范圍、水平線性及調(diào)整縱波探測范圍
2、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量；還可粗略估計直探頭的盲區(qū)大小及測定儀器與探頭組合后的穿透能力
3、 利用R100mm圓弧面測定斜探頭的入射點和盲區(qū)，并可校正時間軸比例和零點。
4、 利用測距為85mm、91mm和100mm三個槽口平面可測定直探頭的縱向分辨力
5、 利用試塊的直角棱邊測定斜探頭聲束偏斜角
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和8-150mm的板厚，其標(biāo)準反射體為Φ3mm×40mm的橫通孔
RB-1、RB-2、RB-3標(biāo)準試塊 主要用途：
1、 繪制距離—波幅曲線
2、 調(diào)整探測范圍和掃描速度
3、 測定斜探頭的K值
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試探頭折射角的刻度面。主要用途：
1.利用R100曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度
2.利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角
3.利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4.利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍
5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度
6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度
7.利用Φ50、44和40三個臺階孔測定斜探頭分辨力
超聲波探傷標(biāo)準試塊 超聲波探傷標(biāo)準試塊 超聲波探傷標(biāo)準試塊