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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應(yīng)用于無(wú)機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。
詳細(xì)介紹
二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡系列的新機(jī)型。
從設(shè)定視野到生成報(bào)告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無(wú)縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。
掃描電子顯微鏡JSM-IT500 InTouchScope™的特點(diǎn)及功能介紹:
3個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)?使日常分析更迅速!更簡(jiǎn)便!
①關(guān)鍵點(diǎn)1?Zeromag
從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和*分析位置。尋找視野非常輕松, *多視野連續(xù)分析的位置也很容易。
②關(guān)鍵點(diǎn)2?實(shí)時(shí)分析 (僅限于A/LA)
在圖像觀察過(guò)程中,進(jìn)行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中, 如果給感興趣的元素加上alert ,會(huì)更容易發(fā)現(xiàn)。
③關(guān)鍵點(diǎn)3?數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報(bào)告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或者從測(cè)試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動(dòng)數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù),一鍵就能生成報(bào)告。
二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡技術(shù)參數(shù)
分辨率 高真空模式 | 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
低真空模式*1 | 4.0 nm (30 kV BED) |
圖像倍率 | ×5～×300,000 |
顯示倍率 | ×14～×839,724 |
電子槍 | 鎢燈絲 電子槍*自動(dòng)合軸 |
加速電壓 | 0.3kV～30kV |
低真空壓力設(shè)定范圍※1 | 10～650Pa |
物鏡光闌 | ３檔 帶有ＸＹ微調(diào)功能 |
自動(dòng)功能 | 燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整，聚焦、像散、襯度/亮度調(diào)整 |
大樣品尺寸 | 200 mm直徑×75 mm高度 |
樣品臺(tái) | 大型全對(duì)中式 |
圖像無(wú)縫拼接功能 | 標(biāo)配 |
顯示測(cè)試位置座標(biāo) | 直徑203 mm |
標(biāo)準(zhǔn)菜譜 | 有（包括EDS條件 ※2） |
圖像模式 | 二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1等 |
獲取圖像的像素?cái)?shù) | 640x480 1,280x960 |
OS | Microsoft®Windows®10 64bit |
顯示器 | 23寸觸摸屏 |
EDS 功能*2 | 譜圖分析、定性分析/定量分析、線分析（水平線分析、任意方向線分析）元素面分布、電子束追蹤等 |
測(cè)長(zhǎng)功能 | 有（兩點(diǎn)間距離、平行線間距離、角度、直徑等） |
數(shù)據(jù)管理功能 | SMILE VIEW™ Lab |
生成報(bào)告功能 | SMILE VIEW™ Lab |
語(yǔ)言切換 | 可以在UI 上（日語(yǔ)/ 英語(yǔ)） |
抽真空系統(tǒng) | *自動(dòng) TMP：1 臺(tái)、RP：1臺(tái)或2臺(tái)※1 |