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掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSM-it100（A）
閱讀：9196 發(fā)布時(shí)間：2016-9-1掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長
標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡
標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD)，能夠進(jìn)行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對中形樣品臺(tái)可以對應(yīng)各種樣品。
電子光學(xué)系統(tǒng)
JSM-IT100A是日本電子株式會(huì)社推出機(jī)型，沿襲日本電子的電子光學(xué)系統(tǒng)，集合了分析掃描電鏡精髓功能，設(shè)計(jì)精簡自動(dòng)化程度高。
使用多點(diǎn)觸摸屏，操作舒適
JSM-IT100A通過多點(diǎn)觸控技術(shù)和的操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像，進(jìn)行EDS元素分析。
主要參數(shù):
放大倍數(shù): ×5~×300,000
探測器:二次電子探測器/半導(dǎo)體背散射電子探測器
加速電壓:0.5KV ~ 20KV
zui大樣品尺寸:直徑150mm高度為48mm的樣品
探測器:電制冷方式BOX-SDD探測器 -無需使用液氮
標(biāo)準(zhǔn)搭載功能:
Qualitative Analysis 定性分析
Quantitative Analysis 定量分析
Active Mapping 活區(qū)面分析
Point Analysis 點(diǎn)分析
Probe Tracking 束流追蹤