MC-2000A高精度涂層測厚儀關于測試工件的要求：

1.本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

2.  試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上zui小曲率要求半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm

其他：

探頭在使用是主要保持垂直測量，這樣得出的示值才會穩(wěn)定，其他類型測厚儀亦如此。   

 注意：由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。（此參考說明書上檢測方法）  

MC-2000A高精度涂層測厚儀MC-2000A涂層測厚儀工作原理

MC-2000A型涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

輕松讀取

可存入測量數(shù)據(jù)600個，對測量中的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可以刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)， 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)。

二、MC-2000A涂層測厚儀產(chǎn)品性能

1、測量范圍：　　0～1200um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：   　  單探頭全量程測厚

   (2).存儲、刪除：

   (3).統(tǒng)計： 設有三個統(tǒng)計量，平均值zui大值zui小值

   (4).校準： 可進行零點校準、兩點校準及系統(tǒng)校準

   (5).電量： 具有欠壓顯示功能

   (6).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示

   (7).打?。?/span> 可打印測量值，選配微型打印機

   (8).關機： 具有自動關機和手動關機兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時,其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

三、MC-2000A型涂層測厚儀配置單

 MC-2000A說明書下載

    1、MC-2000A型涂鍍層測厚儀              一臺

    2、七號電池              　            二節(jié)

    3、探頭                                一支

    4、標準樣片       　　　　　　         一盒     

    5、小鋁箱                              一個

    6、說明書、合格證                      一套

 選配件：                                                              

    1、打印機及通訊打印連線                 1套 

    2、微機通訊軟件                         1盤

1. 內(nèi)防腐探頭

關于基體的要求：

1.基體必須為磁性金屬，如鋼板、鎳、鐵等都是含磁金屬。

2.基體金屬的厚度： 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。科電涂層測厚儀的臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。在工業(yè)現(xiàn)場檢驗中，工件涂鍍層厚度的測量受以下兩個因素的影響非常大：
1、受溫度的影響，同一工件在不同溫度下測量往往會有很大的誤差。
2、由于電子元器件本身的因素，儀器一般會產(chǎn)生一定的電漂，這對測量厚度的影響有時候也是巨大的。
鑒于以上這個兩個難題，科電公司技術(shù)部集中全力終于成功研制成-——鎖相環(huán)技術(shù),一舉攻克以上兩大難題。