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[供應(yīng)]SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡 返回列表頁(yè)
貨物所在地:北京北京市
更新時(shí)間:2025-03-20 21:00:08
有效期:2025年3月20日 -- 2025年9月20日
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SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡
HR-SPM HR-SPM是采用頻率檢測(cè)方式(Frequency Modulation)的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察,還*實(shí)現(xiàn)了固液界面的水化作用層(hydration)·溶劑化作用層(solvation)的觀察。 | ![]() |
●采用FM(頻率調(diào)制)方式 以往的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)是AM(振幅調(diào)制)方式,而FM(頻率調(diào)制)方式從原理上就因?yàn)楦哽`敏度檢測(cè)從而可實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。 SPM:Scanning Probe Microseope | ![]() |
液體中原子分辨率觀察
![]() | 圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM(AM方式:左)湮沒(méi)在噪聲中的原子通過(guò)FM方式(右)則可以清晰地觀察到。 FM方式可以得到真正的原子分辨率(True Atomic Resolution)。 |
大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察
![]() | TiO2基板上的Pt催化粒子被識(shí)別了出來(lái),并通過(guò)KPFM進(jìn)行表面電勢(shì)的測(cè)定??梢杂^察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中,紅色○區(qū)域是正電勢(shì),藍(lán)色□區(qū)域是負(fù)電勢(shì)??梢?jiàn)對(duì)于KPFM觀察,分辨率也得到了大幅的提高。 *KPFM(Keivin Probe Force Microscope)功能為特殊定制。 |
<引用文獻(xiàn)>
1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |
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