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直讀光譜儀的結(jié)構(gòu)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
直讀光譜儀工作原理：各種原子在受到一定能量激發(fā)后后釋放出特定波長的光（電磁波），各特定波長光的強(qiáng)度與各元素的濃度存在函數(shù)關(guān)系，因此測量特定波長光的強(qiáng)度，就可以測出樣品中各元素的濃度。
直讀光譜儀的結(jié)構(gòu)：
光譜分析：使用光譜儀，采用放電方式對試樣中所含分析元素進(jìn)行激發(fā)，根據(jù)測量原子譜線的光譜強(qiáng)度，進(jìn)行定量分析的方法。
光電測光法：采用光電倍增管檢測光強(qiáng)度的測定法。
電極：作為形成放電間隙的試樣和對電極的總稱。
予放電時(shí)間：設(shè)定從放電開始到激發(fā)強(qiáng)度穩(wěn)定這一段的非積分時(shí)間。
氬氣：在電極周圍形成流動(dòng)的氬保護(hù)氣罩，以降低試樣影響，減少空氣中氧的吸收，確保放電穩(wěn)定。
分析試樣：供檢測用試樣。
標(biāo)準(zhǔn)試樣：根據(jù)JIS（日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)）或其它相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的化學(xué)分析方法結(jié)合分析元素含量定值，用于制作檢量線用的試樣。
標(biāo)準(zhǔn)化試樣：儀器運(yùn)行上段時(shí)間或檢測一定數(shù)日的試樣后，對檢量線進(jìn)行校正所使用的氬樣。
直讀光譜儀的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：
（1）高性能ARM數(shù)據(jù)處理器，具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能；
（2）高性能多CMOS檢測技術(shù)，波段內(nèi)的譜線全譜接收；
（3）外置式計(jì)算機(jī)；
（4）FPGA及高速數(shù)據(jù)通訊技術(shù)，數(shù)據(jù)讀入功能強(qiáng)大，檢測數(shù)據(jù)整體讀入時(shí)間短。