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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
研究表明光合有效的輻射范圍超過(guò)傳統(tǒng)400-700nm波長(zhǎng)范圍，很多光源包括新型LED、太陽(yáng)光等都是包括光合有效的遠(yuǎn)紅波段，但這都不能被傳統(tǒng)PAR傳感器檢測(cè)。Apogee最新的400-750nm擴(kuò)展型光合有效輻射（ePAR）傳感器用來(lái)測(cè)量比傳統(tǒng)PAR傳感器更寬范圍的光量子通量密度。
光譜范圍
ePAR的光譜范圍是400-750nm ±5nm。
測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定
經(jīng)過(guò)余弦校正，保證低天頂角輻射測(cè)量的準(zhǔn)確性。傳感器測(cè)量光合量子通量密度，在75°天頂角下余弦響應(yīng)誤差在±5 %之內(nèi)，長(zhǎng)期非穩(wěn)定性小于2%每年。
典型應(yīng)用
室外環(huán)境、溫室、生長(zhǎng)室的植物冠層上光測(cè)量，監(jiān)測(cè)、調(diào)整生長(zhǎng)光，研究植物形態(tài)發(fā)生相關(guān)活動(dòng)，光生物學(xué)研究等。
堅(jiān)固的自清潔外殼
*的圓頂型傳感器頭利于露水和雨水的排出，保持傳感器的清潔，盡可能減小灰塵阻塞光路引起的檢測(cè)錯(cuò)誤，且傳感器和電子器件*置于堅(jiān)固的陽(yáng)極氧化處理的鋁制外殼中。
參數(shù)對(duì)比表
SQ-610-SS | SQ-612-SS | SQ-614-SS | SQ-615-SS | SQ-616 | SQ-617-SS | SQ-618-SS | |
供電 | 自供電 | 5至24 V DC | 12至24 V DC | 5.5至24 V DC | 5 V USB | 5.5至24 V DC | 5.5至24 V DC |
牽引電流 | - | 12 V/57 µA | 最大20 mA | 12 V/57 µA | 記錄時(shí)61 mA | 1.4 mA (靜態(tài)), 1.8 mA (激活) | RS-232 37 mA; RS-485 靜態(tài)37 mA, 激活42 mA |
靈敏度 | 0.01 mV per µmol m-2 s-1 | 0.625 mV per µmol m-2 s-1 | 0.004 mA per µmol m-2 s-1 | 1.25 mV per µmol m-2 s-1 | - | - | - |
輸出類(lèi)型 | 0至40 mV | 0至2.5 V | 4至20 mA | 0至5 V | USB | SDI-12 | Modbus |
分辨率 | - | - | - | - | 0.1 µmol m-2 s-1 | - | - |
校準(zhǔn)系數(shù) | 100 µmol m-2 s-1 per mV | 1.6 µmol m-2 s-1 per mV | 250 µmol m-2 s-1 per mA | 0.8 µmol m-2 s-1 per mV | 傳感器單獨(dú)校準(zhǔn)，存儲(chǔ)于固件中 | 傳感器單獨(dú)校準(zhǔn)，存儲(chǔ)于固件中 | 傳感器單獨(dú)校準(zhǔn)，存儲(chǔ)于固件中 |
校準(zhǔn)不確定性 | ± 5 % | ± 5 % | ± 5 % | ± 5 % | ± 5 % | ± 5 % | ± 5 % |
測(cè)量范圍 | 0至4000 µmol m-2 s-1 | 0至4000 µmol m-2 s-1 | 0至4000 µmol m-2 s-1 | 0至4000 µmol m-2 s-1 | 0至4000 µmol m-2 s-1 | 0至4000 µmol m-2 s-1 | 0至4000 µmol m-2 s-1 |
測(cè)量重復(fù)性 | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % |
長(zhǎng)期漂移 | 小于2 %每年 | 小于2 %每年 | 小于2 %每年 | 小于2 %每年 | 小于2 %每年 | 小于2 %每年 | 小于2 %每年 |
非線(xiàn)性 | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) | 小于1 % (0至4000 µmol m-2 s-1) |
響應(yīng)時(shí)間 | 小于1 ms | 小于1 ms | 小于1 ms | 小于1 ms | 軟件每秒更新 | 小于0.6 s | - |
視場(chǎng) | 180° | 180° | 180° | 180° | 180° | 180° | 180° |
光譜范圍 | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) | 400至750 nm ± 5 nm (響應(yīng)超過(guò)50%最大值的波長(zhǎng)范圍) |
方向響應(yīng) | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 | ± 2 % @45°; ± 5 % @75° 天頂角 |
方位角誤差 | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % |
傾斜誤差 | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % | 小于0.5 % |
溫度響應(yīng) | -0.11 ± 0.04 % / C | -0.11 ± 0.04 % / C | -0.11 ± 0.04 % / C | -0.11 ± 0.04 % / C | -0.11 ± 0.04 % / C | -0.11 ± 0.04 % / C | -0.11 ± 0.04 % / C |
日總不確定性 | 小于5 % | 小于5 % | 小于5 % | 小于5 % | 小于5 % | 小于5 % | 小于5 % |
外殼 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 | 陽(yáng)極氧化鋁制外殼，丙烯酸柔光鏡 |
防護(hù)級(jí)別 | IP68 | IP68 | IP68 | IP68 | IP68 | IP68 | IP68 |
操作環(huán)境 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 | -40至70 C; 0至100 %RH; 水下最大承壓30米 |
規(guī)格 | 直徑30.5 mm, 高37 mm | 直徑30.5 mm, 高37 mm | 直徑30.5 mm, 高37 mm | 直徑30.5 mm, 高37 mm | 直徑30.5 mm, 高37 mm | 直徑30.5 mm, 高37 mm | 直徑30.5 mm, 高37 mm |
質(zhì)量 (含5米線(xiàn)) | 140 g | 140 g | 140 g | 140 g | 140 g | 140 g | 140 g |
質(zhì)保 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 | 4年質(zhì)保，針對(duì)材料和工藝缺陷 |