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更新時(shí)間:2024-08-29 15:39:27
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bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場(chǎng)的5百萬(wàn)像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。
bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200還配有業(yè)界先進(jìn)的操作和分析軟Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能,可訪問(wèn)多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,醫(yī)療設(shè)備,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析。
優(yōu)質(zhì)的測(cè)量與分析功能
·易于使用的界面,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果
·自動(dòng)化功能用于日常測(cè)量和分析
·廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析
·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告
先進(jìn)計(jì)量設(shè)備
·基于超過(guò)四十年的專(zhuān)有WLI創(chuàng)新,ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲、高速、高精度的準(zhǔn)確結(jié)果。
·通過(guò)使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識(shí)別功能,設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征,可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過(guò)程監(jiān)控應(yīng)用。
高性能表面計(jì)量
·放大倍率無(wú)關(guān)的業(yè)界好Z軸分辨率
·大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng)
·穩(wěn)定集成防震設(shè)計(jì)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)