bruker原子力顯微鏡，即afm（Atomic Force Microscope）是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。
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