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美標(biāo)日標(biāo)智能軟化擊穿試驗(yàn)儀ZRJ-20

美標(biāo)日標(biāo)智能軟化擊穿試驗(yàn)儀ZRJ-20的產(chǎn)品特點(diǎn)：

·美標(biāo)日標(biāo)智能軟化擊穿試驗(yàn)儀ZRJ-20，適用于檢測(cè)直徑范圍在0.02～3.00mm的漆包圓線(xiàn)和薄膜繞包圓線(xiàn)在熱狀態(tài)下軟化后的絕緣性能。

·根據(jù)設(shè)定的預(yù)熱溫度、試驗(yàn)時(shí)間，儀器自動(dòng)完成對(duì)試樣的預(yù)加熱、加負(fù)荷、加試驗(yàn)電壓，達(dá)到試驗(yàn)時(shí)間或試樣被擊穿時(shí)即卸負(fù)荷，發(fā)出聲光報(bào)警信號(hào)并顯示試驗(yàn)時(shí)間和溫度，整個(gè)測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成。

·美標(biāo)日標(biāo)智能軟化擊穿試驗(yàn)儀ZRJ-20，自動(dòng)強(qiáng)迫風(fēng)冷風(fēng)扇，使第二次試驗(yàn)?zāi)苎杆龠M(jìn)行。

·美標(biāo)日標(biāo)智能軟化擊穿試驗(yàn)儀ZRJ-20,采用單片機(jī)控制,自動(dòng)測(cè)溫,控溫,溫度調(diào)節(jié)和顯示。

·具有升溫法和定溫法兩種試驗(yàn)方法；加熱模具采用黃銅制作。

·執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4074.6-2008標(biāo)準(zhǔn)/IEC 60851-6:1996；美國(guó)NEMA1000:2003標(biāo)準(zhǔn)；日本JIS標(biāo)準(zhǔn)。

·檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：JB/T4279.8-2008；

·滿(mǎn)足GB/T6109-2008標(biāo)準(zhǔn)要求。

美標(biāo)日標(biāo)智能軟化擊穿試驗(yàn)儀ZRJ-20的技術(shù)參數(shù)：

·砝碼座：0.25N*1,1N*1；

·砝碼：0.15N*1,0.25N*1,0.45N*1,1.2N*1,3.5N*1,4.5N*2,17N*1,34N*1,35N*1。

可選型號(hào)：

·國(guó)標(biāo)軟化擊穿試驗(yàn)儀RJ-20, GB/T4074.6-2008標(biāo)準(zhǔn)。

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