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高溫四探針測試儀現(xiàn)貨，采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良好的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

高溫四探針測試儀現(xiàn)貨

采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

二.適用行業(yè)：Applicable industry:

用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

FT-351 high temperature four probe resistivity test system

一.概述：

二.適用行業(yè)：

雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

三.型號及參數(shù)

規(guī)格型號	FT-351A	FT-351B	FT-351C
1.方塊電阻范圍	10-5～2×105Ω/□	10-6～2×105Ω/□	10-4～1×107Ω/□
2.電阻率范圍	10-6～2×106Ω-cm	10-7～2×106Ω-cm	10-5～2×108Ω-cm
3.測試電流范圍	0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA	10mA ---200pA
4.電流精度	±0.1%讀數(shù)	±0.1讀數(shù)	±2%
5.電阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤10%
PC軟件界面	顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率
7.測試方式	雙電測量
8.四探針儀工作電源	AC 220V±10%.50Hz <30W
9.誤差	≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果		≤15%
溫度(選購)	常溫 -400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
氣氛保護(hù)（氣體客戶自備）)	常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無色、無臭、氣態(tài)的單原子分子
溫度精度	沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
升溫速度： e	常溫開始400℃--800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘
高溫材料	采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征
PC軟件	測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
電極材料	鎢電極或鉬電極
探針間距	直線型探針，探針中心間距：4mm；樣品要求大于13mm直徑
標(biāo)配外（選購）：	電腦和打印機(jī)1套；2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè)；
高溫電源：	供電：400-1200℃ 電源220V，功率4KW；380V;1400℃-1600℃電源380V；功率9KW：

高溫四探針測試儀現(xiàn)貨

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