泰克串行技術(shù)DDR 測試、驗證和調(diào)試

DDR 內(nèi)存接口

內(nèi)存技術(shù)繼續(xù)發(fā)展以滿足應(yīng)用要求。新一代技術(shù)如 DDR4 和 LPDDR3 采用更高速率來提升性能、更低的 I/O 電壓來降低功耗，并支持多種外部形狀以滿足不同應(yīng)用需求。

這些因素帶來調(diào)試和驗證挑戰(zhàn)，因為需要進行大量更加復雜的新測試來驗證和調(diào)試設(shè)備以更緊湊的裕量、更快的邊沿速率和復雜的總線協(xié)議工作。

泰克提供zui完整的全套工具進行內(nèi)存驗證和調(diào)試。有關(guān)我們當前電氣和邏輯驗證解決方案的詳情，敬請訪問以下應(yīng)用頁面：

• DDR 電氣驗證：
  捕捉、測量和鑒定 DDR 內(nèi)存接口信號行為、抖動、眼圖大小、串擾、選通/時鐘對準、誤碼。

• DDR 邏輯驗證：
  捕獲和測量 DDR 內(nèi)存接口的數(shù)字邏輯狀態(tài)，執(zhí)行總線周期的定時和協(xié)議分析。
  
   
  
  
• DDR 協(xié)議性能驗證：
  捕獲和分析總線命令、控制時基系列、將結(jié)果與內(nèi)存接口規(guī)范比對，并分析作為總線利用率和性能指標的總線流量。