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韓國微先鋒XRF-2020H型測厚儀
  • 韓國微先鋒XRF-2020H型測厚儀
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-06-01 19:48:29

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韓國微先鋒XRF-2020H型測厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
韓國微先鋒XRF-2000H型測厚儀

韓國微先鋒XRF-2020H型測厚儀


通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚


測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...


可測單層,雙層,多層,合金鍍層



標牌:Micro Pioneer


貨號:


XRF-2020H

XRF-2020L

XRF-PCB


XRF-2020測厚儀H型:測量樣品高度不超過12cm

XRF-2020測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2020測厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm



檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器等產品電鍍層厚度

可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等

可廣泛使用于電鍍生產企業(yè)及成品來料檢測

方便更有效控制產品電鍍層厚度及品質。

XRF-2020

電鍍測厚儀

可用于測量工件、PCB及五金、連接器、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, 小測量面積為直徑為0.2mm的圓面積; 測量范圍:0-35um;
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量



測量原理:


物質經X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析。


韓國微先鋒XRF-2020H型測厚儀

檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

快速無損測量電鍍層厚度

測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...

可測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度






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