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韓國微先鋒XRF-2000系統(tǒng)鍍層測厚儀
  • 韓國微先鋒XRF-2000系統(tǒng)鍍層測厚儀
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-05-09 17:18:08

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韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀:檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
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韓國微先鋒

XRF-2020系統(tǒng)鍍層測厚儀

特點:

1. H型: 密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。

2. L型:  密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。

3. PCB型: 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下


應(yīng)用 :

檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度

測量范圍根據(jù)不同鍍層0.03-35um


測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。


特色 :


非破壞,非接觸式檢測分析

可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時分析多種元素。

相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。

全系列*設(shè)計樣品與光徑自動對焦系統(tǒng)。


標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。

準(zhǔn)直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。

移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。


*2D與3D或任意位置表面量測分析。

雷射對焦,配合CCD攝取影像使用point and shot功能。

標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告 。

光學(xué)20倍影像放大功能,更能精確對位。

單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。

其物點為:高分辨率,固態(tài)探測器;可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì),元素分析分之ppm - 100%,符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;

可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;

電鍍?nèi)芤悍治觯?/p>


定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;

貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);

自動過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;

性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm,重量:75Kg (net)

可測量樣器大小:W550mm D550mm H30mm

X射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分及電鍍層膜厚

韓國先鋒XRF-2020鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,

如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...

可測單層,雙層,多層,合金鍍層


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