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精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試，覆蓋 RT...1250°C 的寬廣溫度范圍
耐馳激光導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量?jī)x LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺(tái)構(gòu)建，可在室溫...1250°C之間進(jìn)行精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量。儀器使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng)，擁有超長(zhǎng)的光源壽命，在寬廣的溫度范圍內(nèi)提供了精確的導(dǎo)熱測(cè)量，基本無(wú)耗材。
ZoomOptics - 優(yōu)化檢測(cè)范圍，獲取精確的測(cè)量結(jié)果
ZoomOptics 系統(tǒng)（zhuanli號(hào)：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）優(yōu)化了檢測(cè)器的檢測(cè)范圍，消除了樣品外緣的干擾信號(hào)，可大大提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
超高的數(shù)據(jù)采集速率（ 2MHz），極窄的光脈沖寬度（小 20μs 以下），允許測(cè)量薄的高導(dǎo)熱的材料
耐馳激光導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量?jī)xLFA 467 HyperFlash® 系列產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集速率提升到了 2 MHz。這一超高的數(shù)據(jù)采集速率同時(shí)體現(xiàn)在紅外檢測(cè)器，以及 pulse mapping 通道上。由此，可以有效地測(cè)試傳熱時(shí)間非常短的高導(dǎo)熱薄層材料，如厚度 0.3mm 左右的金屬薄片，或厚度 30μm 左右的聚合物薄膜。
zhuanli的 pulse mapping 系統(tǒng)將有限脈沖寬度效應(yīng)、以及熱損耗納入計(jì)算（號(hào)碼：US7038209 B2; US20040079886; DE1024241）。
真空密閉，保證氣氛純凈，防止樣品氧化 儀器內(nèi)置全自動(dòng)真空系統(tǒng)，在測(cè)量開始之前可進(jìn)行自動(dòng)抽真空與氣氛置換操作，保證了氣氛的純凈性。儀器另有擴(kuò)展的真空接口，可連接到外部真空泵。鉑爐為真空密閉設(shè)計(jì)，升溫速率可達(dá) 50K/min。 通過(guò)四樣品位+四組獨(dú)立熱電偶的設(shè)計(jì)，提高測(cè)樣效率與測(cè)溫準(zhǔn)確性 儀器通過(guò)自動(dòng)進(jìn)樣器（ASC），實(shí)現(xiàn)了在寬廣溫度范圍內(nèi)的高效測(cè)試。ASC 包含四個(gè)樣品位，可裝載直徑 12.7mm 的圓形樣品，或 10mm 規(guī)格的圓形或方形樣品。每個(gè)樣品位都擁有獨(dú)立的熱電偶。這一設(shè)計(jì)極大地縮小了樣品與測(cè)溫點(diǎn)之間的溫度偏差。 體積小巧，高度集成化 LFA 467 HT HyperFlash® 是基于氙燈光源而能達(dá)到 1250°C 高溫的 LFA 系統(tǒng)。儀器配備單一的爐體，帶內(nèi)置的自動(dòng)進(jìn)樣器，在保持 LFA 467 HyperFlash® 一貫的小巧體積的同時(shí)，覆蓋了寬廣的溫度范圍。即使在較高的溫度下，有效的內(nèi)部循環(huán)水冷系統(tǒng)仍能保證周圍部件的溫度處于安全范圍之內(nèi)，由此減少了紅外檢測(cè)器的液氮消耗量。 |
LFA 467 HT HyperFlash® - 技術(shù)參數(shù)
- 溫度范圍：RT ... > 1250°C，單一爐體
- 大升溫速率：50 K/min
- 紅外檢測(cè)器：InSb（RT ... >1250°C，可配備液氮自動(dòng)充填設(shè)備）
- 數(shù)據(jù)采集速率：大 2 MHz（同時(shí)適用于紅外檢測(cè)器與 pulse mapping 通道）
- 熱擴(kuò)散系數(shù)范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
- 導(dǎo)熱系數(shù)：< 0.1 W/(m*K) ... 4000 W/(m*K)
- pulse mapping 技術(shù)：用于有限脈沖修正，以及提高比熱測(cè)量精度
- 氣氛：惰性，氧化性，靜態(tài)與動(dòng)態(tài)
- 真空：10-4 mbar
- 樣品支架：適合圓形與方形樣品
- 氣氛控制：MFC 與 AutoVac
LFA 467 HT HyperFlash® 結(jié)構(gòu)示意圖
使用閃光源加熱樣品的下表面，使用紅外檢測(cè)器檢測(cè)樣品上表面的溫度上升過(guò)程
