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EIGER2 R多能混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器探測(cè)器，為世界同行中罕見(jiàn)的雙能探測(cè)器，和布魯克D8系統(tǒng)中有成熟的合作，為行業(yè)中的*，探測(cè)器的詳細(xì)參數(shù)如下：

1、DECTRIS多能混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器?產(chǎn)品特點(diǎn)：

      我們一直持續(xù)致力于不斷的探索研究去突破技術(shù)壁壘，以獲得更為高效的測(cè)試過(guò)程及測(cè)試裝置，使測(cè)試性能趨于完美。目前我們?cè)谕絻x器及科學(xué)研究領(lǐng)域所取得的巨大成就已充分證明了這一點(diǎn)。

      新型的EIGER X 系列探測(cè)器可以為要求極為苛刻的同步應(yīng)用提供好的探測(cè)性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力的千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)分類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段，使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸，通過(guò)X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單元面積的高計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波速線亮度相匹配。

 

2、DECTRIS多能混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器核心優(yōu)勢(shì)：

   - 混合成像計(jì)數(shù)：?jiǎn)喂庾映上裼?jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力

  - 千赫幀速率工作周期> 99%

  - 3μs時(shí)間下的連續(xù)采集模式

  - 5μm像素尺寸的高空間分辨率

  - 計(jì)數(shù)器高達(dá)每平方毫米每秒5億張

  - 無(wú)讀出噪聲和暗電流

  - 極其緊湊的外殼

 

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

  -X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)

 - Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)

 - 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)

 - 大分子晶體學(xué)(MX)

 - 單晶衍射(SCD)

 - 粉末衍射(PD)

 - 表面衍射

- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)

- X射線成像

 

4、技術(shù)參數(shù)：

EIGER2 R	500K	1M	4M
探測(cè)器模塊數(shù)量	1	1 x 2	2 x 4
有效面積：寬x高 [mm2]	77.2 x 38.6	77.2 x 79.9	155.2 X 162.5
像素大小 [μm2]	75 x 75
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel
能量閾值	4
閾值范圍（KeV）	大于120kev		3.5-30
大計(jì)數(shù)率（cps/mm2）	3.6×108
計(jì)數(shù)器深度（bit/threshold）	2×16
采集模式	同時(shí)讀/寫，死區(qū)時(shí)間為零
圖像位深度（bit）	32
可選真空兼容	Yes
冷卻方式	風(fēng)冷	水冷	水冷
尺寸（WHD）[mm3]	100 x 140 x 93	114 x 133 x 240	235 x 235 x 372
重量 [kg]	1.8	3.9	15