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串聯(lián)諧振交流耐壓試驗(yàn)詳解
交流耐壓試驗(yàn)是鑒定電力設(shè)備絕緣強(qiáng)度有效和直接的方法，是電力預(yù)防性試驗(yàn)的一項(xiàng)重要內(nèi)容。
此外，由于交流耐壓試驗(yàn)電壓一般比運(yùn)行電壓高，因此通過試驗(yàn)后，設(shè)備有較大的安全裕度，因此交流耐壓試驗(yàn)是保證電力設(shè)備安全運(yùn)行的一種重要手段。一般選用變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置來進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)。
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試驗(yàn)電壓的確定
交流耐壓試驗(yàn)中，關(guān)鍵的問題就是正確選擇試驗(yàn)電壓的數(shù)值，一方面要求能保證絕緣水平，另一方面要考慮因試驗(yàn)電壓過高而引起的絕緣劣化。
一般應(yīng)考慮以下幾個(gè)因素：
1、在被試品上可能產(chǎn)生過電壓的數(shù)值、持續(xù)時(shí)間及其次數(shù)。如被試品遭受較高過電壓的可能性極小，則可不必采用過高的試驗(yàn)電壓；如被試品（如直接與架空線連接的發(fā)電機(jī)）可能遭受到較高的過電壓時(shí)，則應(yīng)適當(dāng)提高試驗(yàn)電壓的數(shù)值。
2、電氣設(shè)備設(shè)計(jì)時(shí)采用的絕緣水平。
3、設(shè)備絕緣的狀況。設(shè)備在運(yùn)行中由于各種條件的影響，使絕緣逐步劣化，絕緣性能下降，故在確定試驗(yàn)電壓時(shí)，應(yīng)考慮到絕緣損傷的程度和運(yùn)行年限。例如，運(yùn)行中設(shè)備的試驗(yàn)電壓應(yīng)為出廠時(shí)的75%~90%。
影響絕緣交流耐壓擊穿的因素
1、溫度。溫度對(duì)絕緣的擊穿電壓影響很大，溫度升高，介質(zhì)損失增加，散熱條件差則造成熱擊穿，即溫度升高能使擊穿電壓下降。
2、電源頻率。電源頻率與介質(zhì)損失有很大關(guān)系，因介質(zhì)損失隨電源頻率的增加而增加，則擊穿電壓與電源頻率亦有直接的關(guān)系。例如50Hz的擊穿電壓要比25Hz的擊穿電壓降低10%。
3、加壓時(shí)間。電壓作用時(shí)間對(duì)絕緣的擊穿起著直接的作用，所加電壓較高，則發(fā)生擊穿所需時(shí)間較短，如所加電壓較低，則發(fā)生擊穿所需時(shí)間較長(zhǎng)。
4、受潮程度。絕緣受潮后將使絕緣擊穿強(qiáng)度下降。不易吸潮的材料，受潮后擊穿電壓下降到約為未受潮時(shí)的一半，容易吸潮的材料，受潮后的耐壓可能僅為干燥時(shí)的百分之一。
交流耐壓試驗(yàn)結(jié)果分析
被試品一般經(jīng)過交流耐壓試驗(yàn)，在持續(xù)時(shí)間內(nèi)，不擊穿為合格，反之為不合格。
被試品是否被擊穿可按下述各種情況進(jìn)行判斷：
1、根據(jù)試驗(yàn)時(shí)接入的表計(jì)進(jìn)行分析，一般情況下，若電流表突然上升，則表明被試品擊穿（過流繼電器動(dòng)作，自動(dòng)跳閘）。但當(dāng)被試品的容抗XC 與試驗(yàn)變壓器的漏抗 XL之比不大于2時(shí)，雖然被試品擊穿，電流表指示也不會(huì)發(fā)生明顯的變化，有時(shí)還可能出現(xiàn)電流表指示反而下降的情況。
若出現(xiàn)這種情況，應(yīng)根據(jù)在高壓側(cè)的測(cè)量電壓裝置監(jiān)視高壓側(cè)的電壓，被試品若擊穿，其電壓表只是要突然下降，而在低壓側(cè)測(cè)量的電壓表也要下降，但有時(shí)很不明顯。
2、根據(jù)試驗(yàn)控制回路的狀況進(jìn)行分析。若過流繼電器整定值適當(dāng)，則被試品擊穿時(shí)過流繼電器動(dòng)作，電磁開關(guān)即跳閘。若整定值過小，可以在升壓過程中因被試品的電容電流過大而使過流繼電器動(dòng)作而跳閘。
3、根據(jù)被試品狀況進(jìn)行分析。試驗(yàn)過程中，如被試品發(fā)出擊穿響聲、斷續(xù)放電響聲、冒煙、產(chǎn)生氣體、有焦臭味、跳火以及燃燒等都是不能容許的，應(yīng)查明原因。如查明這種情況來自被試品絕緣部分，則可以認(rèn)為被試品存在問題或已確實(shí)被擊穿。