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手機扭曲壽命試驗機適用于手機作扭曲試驗，以檢測手機外殼及內(nèi)部結(jié)構(gòu)抗扭曲的性能。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
手機扭曲壽命試驗機HK-NQ-C
手機扭曲試驗機設(shè)備用途
手機扭曲壽命試驗機適用于手機作扭曲試驗，以檢測手機外殼及內(nèi)部結(jié)構(gòu)抗扭曲的性能。
手機扭曲壽命試驗機設(shè)備特點
采用液晶觸摸屏+PLC作扭曲程序控制，中文界面，操作簡便；
采用步進或伺服馬達驅(qū)動，定位精準，扭矩輸出平穩(wěn)，低噪聲；
采用高精度扭矩荷重元測量扭矩，高精度；
可調(diào)式手機夾具，能快捷夾持手機進行測試；
手機扭曲測試機設(shè)備參數(shù)
型號HK-NQ-C
產(chǎn)品名稱手機扭曲壽命試驗機
扭矩0.3～5N.m±0.5%FS
測試速度1～40次/min
停留時間1～999sec（可 設(shè)）
次數(shù)1～999999次
體積W600×D550×H400mm
重量35kg
電源AC220V,50Hz 3A 或