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“掃描探針顯微鏡漂移測量方法”標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布

2012-6-11　　閱讀(1090)

       黃文浩教授近二十年來一直從事納米技術(shù)與精密儀器領(lǐng)域的研制工作。在2006年，他向標(biāo)準(zhǔn)化組織ISO/TC201（表面化學(xué)分析技術(shù)委員會）提出了“掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法標(biāo)準(zhǔn)”的提案，目的是要將SPM工作時納米/秒的漂移大小和方向測量出來，以規(guī)范這類儀器的使用方法。2007年該提案正式立項，黃文浩教授被為該項目工作組的召集人。經(jīng)過四年多的努力，SPM漂移測量方法標(biāo)準(zhǔn)的zui終草案于2011年經(jīng)全體成員國投票后順利通過，并于2012年正式發(fā)布。

　　該標(biāo)準(zhǔn)定義了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的專業(yè)術(shù)語，規(guī)定了SPM漂移速率的測量方法和測量程序，對儀器的功能和工作環(huán)境以及測量報告內(nèi)容均作了嚴(yán)格要求。該標(biāo)準(zhǔn)為SPM儀器生產(chǎn)廠家制定了漂移速率的有效參數(shù)規(guī)格，并且能幫助用戶了解儀器的穩(wěn)定性，以便設(shè)計有效的實(shí)驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)不僅適用于基于SPM測量圖像的漂移速率評價方法，對其它納米級測量儀器穩(wěn)定性的評價也有著重要參考價值。自20世紀(jì)80年代掃描探針顯微鏡（Scanning-probe microscopy，SPM）發(fā)明以來，由于其具有原子量級的分辨能力，極大地促進(jìn)了納米科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，并已逐步形成了一種高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)。SPM的工作原理是通過微小探針在樣品表面進(jìn)行掃描，將探針與樣品表面間的相互作用轉(zhuǎn)換為表面形貌和特性圖像。由于掃描速率較慢，漂移現(xiàn)象在掃描過程中普遍存在，這制約了SPM在納米測量和納米加工方面的進(jìn)一步應(yīng)用。


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