日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀上市通知

HIOKI此次發(fā)售了阻抗分析儀IM7581。
在信息化發(fā)展的今天，為了收發(fā)大容量的數(shù)據(jù)，高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展之中。這類高速傳輸線的延遲時(shí)間偏差的改善和干擾對(duì)策中所使用的共模濾波器及鐵氧體磁珠等電子元件也隨之向高頻化發(fā)展。
在這樣的市場(chǎng)走勢(shì)中，我司于去年8月發(fā)售了IM7580。IM7580zui高可測(cè)量300MHz的高頻，是一款適用于高頻化電子元件的產(chǎn)品。通過IM7580zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量，能夠快速的檢查大量的電子元件，并提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。
本次發(fā)售的IM7581，相對(duì)于IM7580的1MHz～300MHz測(cè)量頻率，還擴(kuò)大了低頻范圍達(dá)到100kHz～300MHz。因此，之前需要使用兩臺(tái)測(cè)量?jī)x器的產(chǎn)線中，只需要一臺(tái)IM7581即可對(duì)應(yīng)。

日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀 開發(fā)背景

現(xiàn)在需要進(jìn)行大容量數(shù)據(jù)的收發(fā)，因此高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€在高速發(fā)展之中。為了在維持高速傳輸線的信號(hào)品質(zhì)的同時(shí)控制干擾影響，會(huì)使用共模濾波器和鐵氧體磁珠等電子元件，而隨著傳輸線的高速化，此類電子元件也向高頻化發(fā)展。
而且，在追求手機(jī)和手提電腦的小型化時(shí)，電源部分也需要小型化，為了解決這個(gè)問題要將DC-DC轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率高頻化。只是，大型設(shè)備中的開關(guān)頻率也存在以往數(shù)百kHz的設(shè)備，因此生產(chǎn)這些電子元件的電子元件廠商在電子元件的開發(fā)和出貨檢查中需要進(jìn)行數(shù)百kHz~數(shù)十MHz的測(cè)量。但是很少有1臺(tái)機(jī)器就能測(cè)量這個(gè)頻率范圍，一般出貨檢查中會(huì)安裝2臺(tái)測(cè)量?jī)x器，按照不同的產(chǎn)品切換著來使用。
在此需求的基礎(chǔ)上，我司著手開發(fā)了能夠滿足100kHz低頻測(cè)量的高頻且能夠進(jìn)行高速測(cè)量檢查的阻抗分析儀，在以往需要2臺(tái)測(cè)量?jī)x器的生產(chǎn)線中，現(xiàn)在只需要1臺(tái)測(cè)量?jī)x器即可。



日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀 主要用途

電子元件廠商的電子元件的出貨檢查
電子元件廠商的電子元件的驗(yàn)收和特性評(píng)估

日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀 產(chǎn)品特點(diǎn)

1.測(cè)量頻率帶寬100kHz～300MHz
IM7581的測(cè)量頻率是100kHz~300MHz。和去年發(fā)售的IM7580相比，還能對(duì)應(yīng)低頻測(cè)量。 單一頻率測(cè)量的LCR模式的話，可用于電子元件的出貨檢查的合格判斷，變化頻率的同時(shí)測(cè)量的分析模式的話，可用于產(chǎn)品開發(fā)中的特性評(píng)估等各種領(lǐng)域。
2.zui快0.5ms的高速測(cè)量和高穩(wěn)定性的測(cè)量，有利于提高生產(chǎn)效率
zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量。因此，對(duì)于需要快速檢查大批量電子元件的電子元件廠商來說，大幅提高了生產(chǎn)效率。
而且，測(cè)量的反復(fù)精度和以往產(chǎn)品相比提高了1/10，能夠加穩(wěn)定的測(cè)量，并改善生產(chǎn)的產(chǎn)率，從而提高生產(chǎn)效率。
3.主機(jī)尺寸小型化，減少生產(chǎn)成本
電子元件廠商的生產(chǎn)線中，機(jī)架里安裝了各種儀器并制作成檢查系統(tǒng)，來進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此，通過將主機(jī)尺寸變小，讓檢查系統(tǒng)小型化，通過安裝多臺(tái)儀器能夠縮短檢查時(shí)間，從而降低生產(chǎn)成本。
IM7580的尺寸是半個(gè)機(jī)架的大?。ㄩL(zhǎng)215mm、高200mm、寬268mm），一個(gè)機(jī)架中能放置2臺(tái)。
4.各種判定功能判定合格情況
IM7581中追加了點(diǎn)判定的功能。除了在以往單一的頻率下判定合格與否的方式外，還能使用點(diǎn)判定來判定多個(gè)頻率的合格情況，是的電子元件的檢查方式。



基本參數(shù)

基本精度：±0.72%rdg
測(cè)量速度：FAST: 0.5ms/MED: 0.9ms/SLOW: 2.1ms/SLOW2: 3.7ms
測(cè)量范圍：100mΩ ～5kΩ
測(cè)量頻率：100kHz ～300MHz
測(cè)量信號(hào)電平：-40.0dBm～+7.0dBm / 4mV～1001mV / 0.09mA～20.02mA



同時(shí)發(fā)售IM7580的替代升級(jí)產(chǎn)品IM7580A

IM7580的替代升級(jí)產(chǎn)品IM7580A也同時(shí)發(fā)售。
延續(xù)了IM7580獲得好評(píng)的性能、參數(shù)和便捷性，并共用了IM7581的設(shè)計(jì)，以此降低成本。
也具備IM7581新功能中的點(diǎn)判定功能。