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MX4R 微分干涉顯微鏡 爆破粒子檢測(cè)顯微鏡
MX4R金相顯微鏡采用靈活的系統(tǒng)組合、的成像性能、穩(wěn)定的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，MX4R系列專(zhuān)業(yè)應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)及金相分析領(lǐng)域，各操作機(jī)構(gòu)根據(jù)人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設(shè)計(jì)，可對(duì)系統(tǒng)功能進(jìn)行自由組合。集成了明場(chǎng)、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，進(jìn)行功能選擇。全新采用半復(fù)消技術(shù)，集明場(chǎng)、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察模式下都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。
性能特點(diǎn)
1）MX4R系列為全新型FPD檢查顯微鏡，專(zhuān)為L(zhǎng)CD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導(dǎo)電粒子壓痕、粒子爆破檢查
2）MX4R系列機(jī)型采用4寸、6寸平臺(tái)設(shè)計(jì)，可適用于相應(yīng)尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查
3）MX4R系列，其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美
4）MX4R系列機(jī)型采用全新設(shè)計(jì)的長(zhǎng)工作距物鏡、半復(fù)消色差技術(shù)，采用長(zhǎng)壽命LED光源
5）多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗(yàn)需要，可用于明場(chǎng)、簡(jiǎn)易偏光、微分干涉觀察
■ 采用無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)
■ 長(zhǎng)工作距、明暗場(chǎng)兩用平場(chǎng)消色差物鏡，成像清晰、像面平坦
■ 配備反射式柯拉照明系統(tǒng)，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明
■ 正像三通觀察筒，30°傾斜，極大的提高了觀察的舒適性與操作的適應(yīng)性
■ 配備了4寸帶離合器的機(jī)械平臺(tái)230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移動(dòng)
■ 良好的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，高剛性鏡筒，“Y”型底座，調(diào)焦機(jī)構(gòu)采用前置式操作控制
■ 光源采用寬電壓數(shù)字調(diào)光技術(shù)，具有光強(qiáng)調(diào)定與復(fù)位功能
■ 可選配攝影攝像裝置、簡(jiǎn)易偏光裝置、干涉濾光片、測(cè)微尺等附件，拓展應(yīng)用領(lǐng)域
★ 可選配6英寸三層機(jī)械移動(dòng)平臺(tái)，平臺(tái)面積445×240mm，行程158×158mm；玻璃載物臺(tái)板，透反兩用平臺(tái)；
★ 可選配標(biāo)準(zhǔn)微分干涉（DIC）裝置、OLYMPUS微分干涉（DIC）裝置