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X熒光光譜儀在水泥質(zhì)量控制應(yīng)用中存在的問(wèn)題

閱讀:646      發(fā)布時(shí)間:2015-11-17
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     目前隨著分析技術(shù)的不斷發(fā)展,X熒光光譜儀分析的應(yīng)用越來(lái)越普遍。X射線熒光光譜儀可以對(duì)從Be-U的元素進(jìn)行定性和定量的分析。
    盡管x射線熒光光譜分析壓片方法因操作簡(jiǎn)單、分析速度快、度高、成本低等優(yōu)點(diǎn)在水泥生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用,但由于水泥原料礦物的成分及結(jié)構(gòu)復(fù)雜,樣片的制作因人而異及X射線熒光光譜儀本身測(cè)量的影響等,都會(huì)對(duì)測(cè)量的度帶來(lái)影響。影響測(cè)量度的主要因素有:
    (1)標(biāo)樣選取代表性不夠;
    (2)樣品的制作過(guò)程與標(biāo)樣不一致,如粉磨粒度不同、助磨劑的加入量不一致等帶來(lái)引起測(cè)量的誤差;
    (3)樣片表面不清潔,有裂痕、樣片厚度與標(biāo)樣不一致等也會(huì)給分析帶來(lái)影響;
    (4)基體效應(yīng),水泥工業(yè)中的原料都是一些不均勻粉末,.來(lái)源不同的原料,其粒度、成分、礦物形態(tài)以及元素的干擾嚴(yán)重,基體效應(yīng)是影響XRF分析度的大因素。基體效應(yīng)主要有三種情況:
    ①顆粒效應(yīng),由粒度、粒度分布、顆粒形狀及顆粒內(nèi)部不均勻性引起的物理效應(yīng);
    ②礦物效應(yīng),化學(xué)成分相同的物質(zhì)由于結(jié)晶條件的差異而造成的晶體結(jié)構(gòu)不同,如石墨和金剛石,不同晶體結(jié)構(gòu)的同種元素產(chǎn)生不同強(qiáng)度的熒光X射線,從而造成誤差;
    ③元素間效應(yīng),是指其他元素對(duì)待測(cè)元素的熒光X射線強(qiáng)度的影響,又叫吸收-增強(qiáng)效應(yīng)(基體吸收初級(jí)x射線束影響初級(jí)X射線對(duì)待測(cè)元素的激發(fā);基體吸收待測(cè)元素的熒光X射線束;基體元素放射出的熒光X射線束位于待測(cè)元素吸收限的短波側(cè),被待測(cè)元素吸收激發(fā)出待測(cè)元素的特征譜線)。
    在上述各種影響因素中,因制樣過(guò)程已較為完善,且人為因素帶來(lái)的誤差不可消除,因此繼續(xù)研究制樣過(guò)程來(lái)減小分析誤差已沒(méi)有很大的提升空間?;w效應(yīng)是帶來(lái)分析誤差主要的因素,且基體效應(yīng)是礦物的本身帶來(lái)的影響,礦物的成分和礦物結(jié)構(gòu)或形態(tài)直接關(guān)系顆粒效應(yīng)、礦物效應(yīng)、元素間干擾效應(yīng)。從近些年的國(guó)內(nèi)外文獻(xiàn)、期刊上來(lái)看,學(xué)者們對(duì)這方面的研究不多,因此研究原料礦物的成分和形態(tài)對(duì)XRF測(cè)試的影響從根本上減小測(cè)量誤差、提高度的方法,對(duì)水泥質(zhì)量控制提供一定的理論支撐,具有一定的工業(yè)和現(xiàn)實(shí)意義。

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