當(dāng)前位置:北京百萬電子科技中心> 供求商機(jī)> XF801-A1-A型試片 靈敏度試片 探傷試片
XF801-A1--A型試片 靈敏度試片 探傷試片詳細(xì)介紹
型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免 漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特點(diǎn)如下:
試片用于磁粉顯示,圖像直觀,使用簡便,對各類零件所方向的磁場,尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時,表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格:
試片=1(u)適用于高靈敏度探傷,規(guī)格為(11-12)D;=2( u)適用于中靈敏度探傷,為(8-9)D;=3( u)適用于低靈敏度探傷,規(guī)格為(5-6)D。括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為U(微米),D為工件直徑。
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