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涂層測(cè)厚儀使用方法和注意事項(xiàng)
閱讀：1832 發(fā)布時(shí)間：2018-12-5
涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量數(shù)據(jù)的影響因素
1、薄涂層的測(cè)量準(zhǔn)確度和厚度沒(méi)有關(guān)系，是一個(gè)常數(shù)，厚涂層的測(cè)量準(zhǔn)確度是一個(gè)近似恒定的分?jǐn)?shù)和厚度的乘積。
2、基體磁性的變化會(huì)影響測(cè)量的數(shù)據(jù)，所以涂鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)時(shí)要采用材質(zhì)和試樣基體相同的校準(zhǔn)；采用待鍍產(chǎn)品做基體進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，以避免不相同的集體或局部熱處理和冷加工影響測(cè)量數(shù)據(jù)。
3、涂鍍層測(cè)厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量數(shù)據(jù)往往是不可靠的，這種效應(yīng)可能從不連續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
4、涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量曲面時(shí)，數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而明顯。
5、涂鍍層測(cè)厚儀探頭和試樣要保持清潔，因?yàn)橥鈦?lái)的附著塵埃會(huì)影響測(cè)量的數(shù)據(jù)。
涂層測(cè)厚儀使用方法
●基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
●基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
●邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
●曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。