您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類品牌分類
-
CSK-IB試塊 GS-1、2、3、4試塊承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA 試塊 CSK-IA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 溝槽射線探傷對(duì)比試塊 ASME非管徑焊縫試塊 NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)超聲波試塊 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 石油天然氣管道專用試塊 建筑行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 其它國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 NDT培訓(xùn)考試試塊 超聲波探傷試塊
-
紫外線燈75 不銹鋼鍍鉻條紋試塊 新美達(dá)清洗劑 紅色磁粉油磁懸液 顯像劑滲透劑清洗劑 反差增強(qiáng)抄數(shù)掃描劑 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 增強(qiáng)顯示劑磁粉探傷 新美達(dá)MT-BW黑水磁懸液 宏達(dá)牌干法黑磁粉、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達(dá)牌熒光磁粉（紅磁粉/黑磁粉） 新美達(dá)MT-BO黑油磁懸液 上海新美達(dá)/誠友集團(tuán)反差增強(qiáng)劑 磁粉探傷用消泡劑 無錫捷成 磁場強(qiáng)度計(jì) 北京師范大學(xué) 屏幕亮度計(jì) 北師大紫外輻照計(jì) 宏達(dá)干法黑磁粉 宏達(dá)牌 熒光磁懸液 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)牌濕法探傷磁粉膏 宏達(dá)牌著色滲透探傷劑 新美達(dá) DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機(jī)滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)黑油磁懸液 磁場指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計(jì)一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
-
標(biāo)定尺 警戒帶警示牌 現(xiàn)場警示燈 膠片洗片機(jī) 透射式黑白密度計(jì) 工業(yè)底片黑白密度計(jì) 工業(yè)LED觀片燈 冷光源便攜式觀片燈 冷光源底片燈 工業(yè) 鉛箔增感屏 顯定影液套藥加熱棒 工業(yè)膠片透射式黑白密度計(jì)含校準(zhǔn)密度片 核輻射劑量片熱釋光片 冷光源工業(yè)觀片燈黑度5.0D 雙絲像質(zhì)計(jì)DR成像系統(tǒng)用雙線型IQI定制選擇 環(huán)境輻射檢測儀核輻射檢測手持式醫(yī)院工業(yè)射線巡檢儀 底片評(píng)片燈x光射線探傷 工業(yè)觀片燈/射線探傷評(píng)片/小巧臺(tái)式便攜/高亮度冷光源LED黑度5.0D 暗室紅燈定時(shí)器 射線探傷專用鉛字盒 愛克發(fā)AGFA G335定影液 沖洗套藥 手洗套藥 愛克發(fā)顯影液 定影液 沖洗套藥 手洗套藥 機(jī)洗套藥AGFA 管道射線探傷專用尺 定位尺 磁性貼邊框 數(shù)字定時(shí)器暗室紅燈定時(shí)器 不銹鋼洗片桶 射線評(píng)片尺 拉環(huán)磁鋼 膠片底片袋 可加工定制 暗室LED燈 （手持式）個(gè)人劑量報(bào)警儀 筆式輻射報(bào)警儀 環(huán)境輻射檢測儀 工業(yè)X射線照相底片袋 探傷膠片袋 定制定做 工業(yè)底片烘干箱 便攜工業(yè)底片烘干箱 325000Lux工業(yè)底片觀片燈 435000Lux工業(yè)底片觀片燈 高亮度工業(yè)觀片燈 腕式個(gè)人劑量計(jì) 黑白密度計(jì)定制生產(chǎn) 廠家直銷 個(gè)人輻射劑量報(bào)警儀價(jià)格 筆式輻射劑量報(bào)警儀 非磁性暗袋 射線探傷暗袋非磁人革暗袋 觀片燈 射線觀片燈 醫(yī)用輻射劑量報(bào)警儀 暗室紅燈計(jì)時(shí)器 一體式密度計(jì)觀片燈 高亮度射線底片觀片燈 暗室紅燈 手持式輻射報(bào)警儀 個(gè)人劑量報(bào)警儀 工業(yè)觀片燈 膠片燈 便攜式工業(yè)冷光源觀片燈 底片評(píng)片燈
在底片黑度，像質(zhì)計(jì)靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會(huì)漏檢？
閱讀：2531 發(fā)布時(shí)間：2016-12-30
（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對(duì)比度小于zui小可見對(duì)比度，便不能識(shí)別。因此對(duì)一定的透照條件，存在著一個(gè)可檢出缺陷的臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如小氣孔、夾渣、微裂紋、白點(diǎn)等。
（2）與照射方向不平行的平面缺陷。平面型缺陷具有方向性，當(dāng)缺陷平面與射線之間夾角過大，會(huì)使對(duì)比度降低，甚至在底片上不產(chǎn)生影像，從而造成漏檢。例如坡口及層間未熔合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當(dāng)，0角過大造成橫向裂紋漏檢均屬此類情況。
（3）閉合緊密的缺陷。對(duì)某些緊閉缺陷即使透照角度在允許范圍內(nèi)，仍不能產(chǎn)生足夠的透照厚度差，從而造成漏檢。例如緊閉的裂紋、未熔合、鍛件中的折迭等。