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sunx激光位移傳感器 HL-C235

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2025年5月12日
2025年11月12日
上海上海市
日本
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【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】

【詳細(xì)說(shuō)明】

sunx激光位移傳感器 HL-C235

超高速·高精度激光位移傳感器 HL-C235特點(diǎn)：檢測(cè)距離350mm的產(chǎn)品嶄新加入傳感器系列350±

凝結(jié)了新技術(shù)的超高速、高精度激光位移傳感器上新增350mm長(zhǎng)距離檢測(cè)頭，滿足用戶的一切需求。

區(qū)分	種類	形狀	檢測(cè)中心距離和檢測(cè)范圍	分辨率	光束直徑	型號(hào)	激光等級(jí)
小型·超高精度	小光點(diǎn)型		10±1mm	0.25μm	約φ20μm	HL-C201AE	CLASS1
	線性光點(diǎn)型				約20×700μm	HL-C201AE-MK
超高精度	小光點(diǎn)型		30±5mm	0.25μm	約φ30μm	HL-C203BE	CLASS2
	線性光點(diǎn)型				約30×1200μm	HL-C203BE-MK
中距離·高精度	小光點(diǎn)型		110±15mm	0.25μm	約φ80μm	HL-C211BE	CLASS2
						HL-C211CE	CLASS3R
	線性光點(diǎn)型				約80×1700μm	HL-C211BE-MK	CLASS2
						HL-C211CE-MK	CLASS3R
長(zhǎng)距離·高精度	小光點(diǎn)型		350±50mm	0.5μm	約φ250μm	HL-C235BE	CLASS2
						HL-C235CE	CLASS3R
	線性光點(diǎn)型				約250×3500μm	HL-C235BE-MK	CLASS2
						HL-C235CE-MK	CLASS3R

可根據(jù)工件和用途，從10mm的超高精度型到350mm的長(zhǎng)距離型中選擇zui適用產(chǎn)品。
HL-C2系列

規(guī)格

	種類	小光點(diǎn)型		線性光點(diǎn)型		小光點(diǎn)型		線性光點(diǎn)型
項(xiàng)目	型號(hào)	HL-C235BE		HL-C235BE-MK		HL-C235CE		HL-C235CE-MK
設(shè)置模式		擴(kuò)散反射時(shí)	正反射時(shí)	擴(kuò)散反射時(shí)	正反射時(shí)	擴(kuò)散反射時(shí)	正反射時(shí)	擴(kuò)散反射時(shí)	正反射時(shí)
檢測(cè)中心距離		350mm	348mm	350mm	348mm	350mm	348mm	350mm	348mm
檢測(cè)范圍（注2 ）		±50mm	±42mm	±50mm	±42mm	±50mm	±42mm	±50mm	±42mm
分辨率（平均次數(shù)）（注3）		2.0μm [256次] 0.5μm [4096次]
線性度（注4 ）		±0.03% F.S.
溫度特性		0.01% F.S./ ℃
光源		紅色半導(dǎo)體激光級(jí)別2（JIS/IEC） zui大輸出1mW、投光波峰波長(zhǎng)658nm				紅色半導(dǎo)體激光級(jí)別2（JIS/IEC） zui大輸出5mW、投光波峰波長(zhǎng)658nm
光束直徑（注5）		約φ250μm		約250×3500μm		約φ250μm		約250×3500μm
受光元件		線性圖像傳感器

（注1）：未時(shí)的檢測(cè)條件如下：連接控制器、電源電壓：24V DC、周圍溫度=+20℃、取樣周期40μs、平均次數(shù)256次、檢測(cè)中心距離、由白陶瓷制成的檢測(cè)物體、數(shù)字測(cè)定值。
（注2）：取樣周期為20μs及10μs時(shí)的檢測(cè)范圍如下表所示。

型號(hào)		HL-C235□-MK
設(shè)置模式		擴(kuò)散反射時(shí)	正反射時(shí)
取樣周期	20μs	0~+50mm	0~+42mm
	10μs	+36~+50mm	+36~+42mm

（注3）通過(guò)將P-P值換算成距離得到這些值。P-P值表示通過(guò)檢測(cè)中心距離測(cè)定值的分布。
（注4）此值表示采用本公司的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)物體進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，相對(duì)于數(shù)字變位輸出的理想直線的誤差。此值會(huì)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象的特征而改變。
（注5）這是檢測(cè)中心距離上的值。以中心光強(qiáng)度的1/e2（約13.5%）定義這些值。如果定義區(qū)域外有光泄漏，并且檢測(cè)點(diǎn)周圍有高于檢測(cè)點(diǎn)本身的強(qiáng)反射，檢測(cè)結(jié)果可能會(huì)受到影響。

尺寸（單位mm）

設(shè)置模式：擴(kuò)散反射

擴(kuò)散反射

設(shè)置模式：正反射

正反射