品牌：上海儀電分析儀器有限公司（原上海精科科學(xué)分析儀器廠）
名稱：紫外可見分光光度計(jì)
型號：UV760CRT

商品簡述： 

760CRT型雙光束紫外可見分光光度計(jì)是引進(jìn)吸收日本島津公司*技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動記錄分光光度計(jì)，軟件基于Windows98平臺，界面友好、美觀，操作簡單，通過打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告，并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表，儀器具有波長掃描、時(shí)間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能，優(yōu)異的性能，適合用于生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究工作的需要。

主要特點(diǎn)：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。
● 微機(jī)控制，自動記錄，打印機(jī)可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
● 光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）
● 功能*的光譜處理能力。

軟件特點(diǎn)：
● 信息存貯容量大，保存方便。
● 軟件提供四個(gè)圖譜通道臨時(shí)貯存圖譜，可進(jìn)行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進(jìn)行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運(yùn)算、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算。
● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
● 時(shí)間掃描可進(jìn)行動力學(xué)研究。
● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進(jìn)行曲線擬合及異常點(diǎn)剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進(jìn)行多達(dá)20個(gè)點(diǎn)波長的測試。
● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測試條件。
● 打印機(jī)可進(jìn)行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。

技術(shù)指標(biāo)：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
● 波長范圍：190nm～900nm
● 分辯率：優(yōu)于0.15nm
● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
● 波長大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）
● 波長重復(fù)性：0.2nm
● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
● 透射比大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）
● 掃描速度：快、中、慢
● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min
● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）