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[供應(yīng)]LY.4-LT-3-單晶少子壽命測(cè)試儀
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  • LY.4-LT-3-單晶少子壽命測(cè)試儀
貨物所在地:
北京北京市
產(chǎn)地:
北京
更新時(shí)間:
2022-06-24 21:00:06
有效期:
2022年6月24日 -- 2022年12月24日
已獲點(diǎn)擊:
146
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單晶少子壽命測(cè)試儀


簡(jiǎn)介

特點(diǎn):

*.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于   測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
*.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
*.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
*.配備光源類型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
  余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
*.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
*.測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式;

 

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