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[供應(yīng)]LY.4-ST-102A-探針測(cè)試臺(tái)
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  • LY.4-ST-102A-探針測(cè)試臺(tái)
貨物所在地:
北京北京市
產(chǎn)地:
北京
更新時(shí)間:
2022-06-24 21:00:06
有效期:
2022年6月24日 -- 2022年12月24日
已獲點(diǎn)擊:
161
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LY.4-ST-102A型探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。

詳細(xì)介紹



探針測(cè)試臺(tái)


簡(jiǎn)介



技 術(shù) 指 標(biāo)

工作臺(tái)面

 370mm*245mm

載物臺(tái)直徑

 4"

光學(xué)參數(shù)

 總放大率:50-100倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;

精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)

 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;
 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm

三維探針座

 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
 zui多可布三維探針座6個(gè);
 探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm;
 探針長(zhǎng)度:40mm;

探針

  探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;

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