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[供應(yīng)]LY.4-XX-2-方塊電阻測(cè)試儀
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  • LY.4-XX-2-方塊電阻測(cè)試儀
貨物所在地:
北京北京市
產(chǎn)地:
北京
更新時(shí)間:
2022-06-24 21:00:06
有效期:
2022年6月24日 -- 2022年12月24日
已獲點(diǎn)擊:
292
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

LY.4-XX-2型方塊電阻測(cè)試儀是XX型系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品,專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。

詳細(xì)介紹



方塊電阻測(cè)試儀


簡(jiǎn)介



◆ 特點(diǎn)

1

 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定

2

 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰

3

 采用單個(gè)電池供電,帶電池欠壓指示

4

 體積≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g

5

 可配臺(tái)式探頭和特制之手握式探頭,對(duì)應(yīng)可采用臺(tái)式和手握式操作,使用簡(jiǎn)易

6

 帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED)

7

 單電源開(kāi)關(guān),推拉式探頭-主機(jī)接插件,操作極其簡(jiǎn)便。

◆ 技術(shù)指標(biāo):

測(cè)量范圍

基本量程:方塊電阻1.00-199.99(Ω/口)
擴(kuò)展量程:方塊電阻10.0-1999.9(Ω/口)

測(cè)量不確定度

≤5%

探針規(guī)格

 探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

 測(cè)量過(guò)程誤差:≤±0.8%

電源

 9V疊層電池1節(jié)

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