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[供應(yīng)]LY.4-ST-20-掌上型方塊電阻測(cè)試儀
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  • LY.4-ST-20-掌上型方塊電阻測(cè)試儀
貨物所在地：
北京北京市
產(chǎn)地：
北京
更新時(shí)間：
2022-06-24 21:00:06
有效期：
2022年6月24日 -- 2022年12月24日
已獲點(diǎn)擊：
207
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

LY.4-ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。

詳細(xì)介紹



掌上型方塊電阻測(cè)試儀


簡(jiǎn)介
   

◆ 特點(diǎn)：

1

 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定

2

 低功耗

3

 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示

4

 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量范圍

基本量程：方塊電阻10.0-199.9（Ω/口）
擴(kuò)展量程：方塊電阻100-1999（Ω/口）

測(cè)量不確定度

≤5%

探針規(guī)格

 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

 測(cè)量過(guò)程誤差：≤±0.8%

電源

 9V疊層電池1節(jié)

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