產(chǎn)品介紹：

   XAN^® 系列儀器特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用并且性價(jià)比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

XAN涂鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用：

（一）鍍層厚度測(cè)量

1、厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層。

2、時(shí)尚首飾：對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析。

3、抗磨損鍍層，如：對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量來進(jìn)行測(cè)量。

4、測(cè)試納米級(jí)的基礎(chǔ)金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM）。

（二）材料分析

1、測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度。

2、專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)的材料的分析。

3、依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的其它物質(zhì)（例如重金屬）。

4、功能性鍍層的成分，如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量。

XAN涂鍍層測(cè)厚儀特性：

1、操作簡(jiǎn)單并且性價(jià)比高。

 2、自下而上來進(jìn)行測(cè)量，從而非?？焖?、簡(jiǎn)便地定位樣品。

3、廣泛適用：為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號(hào)。

4、以非破壞性的方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析。

5、帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型，可對(duì)極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測(cè)量。