CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA 試塊是我國(guó)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊。CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)的 主要用途有:測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;測(cè)定斜探頭的折射角;測(cè)定斜探頭聲束軸線(xiàn)的偏離情況;測(cè)定探傷儀水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍等。
CSK-IA 試塊是我國(guó)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊。
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)的 主要用途有:1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線(xiàn)的偏離情況;4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
水平線(xiàn)性又稱(chēng)時(shí)基線(xiàn)性，或掃描線(xiàn)性。是指輸入到超聲檢測(cè)儀中的不 同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測(cè)儀顯示屏?xí)r基線(xiàn)上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線(xiàn)性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線(xiàn)性的測(cè)試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線(xiàn)對(duì) 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線(xiàn)相重合的情況。其測(cè)試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對(duì)準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對(duì)準(zhǔn) 2.0，B5 對(duì)準(zhǔn) 10.0，如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。
(4)計(jì)算水平誤差:公式
式中，amax——a2，a3，a4 中最大者 b——示波屏水平滿(mǎn)刻度值
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