瑞士萬通電化學(xué)近紅外光譜儀SPELECNIR將近紅外光譜與電化學(xué)測(cè)量集成在一起的儀器，所有組件都匹配，其中電化學(xué)和光學(xué)測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺(tái)雙恒電位/恒電流儀。

該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨(dú)立使用。SPELECNIR可以與標(biāo)準(zhǔn)比色皿支架或光譜電化學(xué)測(cè)試池池一起使用，也可以配合DropSens測(cè)試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。

瑞士萬通電化學(xué)近紅外光譜儀SPELECNIR主要特點(diǎn)

• DropView同時(shí)控制光譜與電化學(xué)測(cè)量

• 光譜信號(hào)與電化學(xué)測(cè)量同步采集

• 實(shí)時(shí)采集光譜，無延遲

• 暗譜與參考譜校正

• 計(jì)數(shù)、吸收率、透射率和反射率測(cè)量和計(jì)算

• 自動(dòng)和手動(dòng)快門控制

• 自由選擇積分時(shí)間

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析

• 可分別提供光譜和電化學(xué)曲線相關(guān)信息

強(qiáng)大的的數(shù)據(jù)采集與結(jié)果處理

• 實(shí)時(shí)控制面板，可在電化學(xué)測(cè)量過程中隨時(shí)連續(xù)收

集生成的光譜。

• 特定波長(zhǎng)下光譜與電化學(xué)曲線圖：電位吸收?qǐng)D，計(jì)時(shí)

吸收?qǐng)D和微分圖。

• 獨(dú)立收集每個(gè)光譜和電化學(xué)曲線的信息。

• 的EC范圍內(nèi)捕獲的光譜, 獲取與特定EC點(diǎn)相關(guān)

的光譜。

• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。

• 三維繪圖, 錄制實(shí)驗(yàn)影片。

• 所有數(shù)據(jù)均可導(dǎo)出Excel。