產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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拉力試驗(yàn)機(jī)配套夾具 球壓耐熱試驗(yàn)裝置 普通V帶測(cè)長(zhǎng)機(jī)、測(cè)試儀、 壓縮試驗(yàn)機(jī) 輸送帶滾筒摩擦試驗(yàn)機(jī) 萬(wàn)能壓力試驗(yàn)機(jī) 電子萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī) 低溫脆性試驗(yàn)機(jī) 橡膠磨耗試驗(yàn)機(jī) 機(jī)械式拉力試驗(yàn)機(jī) 材料拉伸試驗(yàn)機(jī) 阿克隆磨耗試驗(yàn)機(jī) 簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī) 拉伸材料試驗(yàn)機(jī) 金屬材料試驗(yàn)機(jī) 液晶顯示電子拉力試驗(yàn)機(jī) 保溫材料試驗(yàn)機(jī) 微控電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 屏顯式液壓萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 微電腦拉力試驗(yàn)機(jī) 塑料試驗(yàn)機(jī) 橡膠拉力機(jī) 萬(wàn)能電子試驗(yàn)機(jī) 材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī) 材料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 沖擊試驗(yàn)機(jī)
一次看懂推拉力機(jī)工作原理
推拉力機(jī)又叫芯片推拉力測(cè)試儀擁有等多項(xiàng)功能,應(yīng)用操作中基本上可執(zhí)行推力、拉力、剪切力的測(cè)試操作。廣泛應(yīng)用激光管元件、CMOS芯片、光電子元器件、半導(dǎo)體IC封裝、0402電阻焊接等相關(guān)產(chǎn)品的破壞性和非破壞性機(jī)械測(cè)試,以及其他相關(guān)的電子元件的檢測(cè)。今天就來(lái)跟大家講一下推拉力機(jī)相關(guān)知識(shí),分享一下我對(duì)推拉力機(jī)工作原理的理解,希望能夠幫助到大家。
焊線(xiàn)類(lèi)拉力功能原理:
常規(guī)的線(xiàn)焊測(cè)試的原理是:基于相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)例如MIL-STD-883(方法 2011.7 適用于破壞性測(cè)試;方法 2023.5 適用于非破壞性測(cè)試)要求下,將測(cè)試鉤針移動(dòng)至焊線(xiàn)下方,并沿Z軸方向向上拉扯,直到焊接被破壞(破壞性測(cè)試)或達(dá)到預(yù)定義的力度(非破壞性測(cè)試)。同時(shí)參考:冷/熱焊凸塊拉力 -JEITA EIAJ ET-7407、倒裝焊拉力 -JEDEC JESD22-B109、冷焊凸塊拉力 -JEDEC JESD22-B115、引線(xiàn)拉力 -DT/NDT MIL STD 883等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。拉力測(cè)試測(cè)試范圍可在0-100G;0-1KG;0-10KG比較常見(jiàn)。
該工作原理同樣適用于金線(xiàn)/金絲鍵合、鋁線(xiàn)、銅線(xiàn)、合金線(xiàn)、鋁帶等拉力測(cè)試焊接強(qiáng)度測(cè)試儀。
焊球類(lèi)/芯片剝離力功能原理:
將焊料球從基板材上拔除,以測(cè)量芯片焊球和基板之間的附著力,評(píng)估焊球能夠承受機(jī)械剪切的能力,可能是元器件在制造、處理、檢驗(yàn)、運(yùn)輸和最終使用的作用力。是測(cè)試膠水、焊料和燒結(jié)銀結(jié)合區(qū)域的理想方法。
焊球剪切力測(cè)試,也稱(chēng)鍵合點(diǎn)強(qiáng)度測(cè)試。根據(jù)所測(cè)試的焊球/芯片,選用剛硬精密的推刀夾具,通過(guò)三軸測(cè)試平臺(tái),將測(cè)試頭移動(dòng)至所測(cè)試產(chǎn)品后上方,讓剪切工具與芯片表面呈90°±5°。并與受測(cè)試焊球凸點(diǎn)/芯片對(duì)齊。使用了靈敏的觸地功能找到測(cè)試基板的表面。同時(shí)讓剪切工具位置保持準(zhǔn)確,即按照設(shè)備程序設(shè)置的移動(dòng)速率,每次都在相同高度進(jìn)行剪切。配有定期校準(zhǔn)的傳感器,(傳感器選用超過(guò)焊球最大剪切力的1.1倍)、高功率光學(xué)器件,穩(wěn)定的雙臂顯微鏡加以輔助。同時(shí)配攝像機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行加載工具與焊接對(duì)準(zhǔn)、測(cè)試后檢查、故障分析和視頻捕獲。不同應(yīng)用的測(cè)試模塊可輕易更換。許多功能是自動(dòng)化的,同時(shí)還有*的電子和軟件控制。主要基于JEDEC JESD22-B116 - 金球剪、JEDEC JESD22-B117 – 焊球剪切、ASTM F1269 - 球鍵剪切、芯片剪切 -MIL STD 883等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。推球測(cè)試測(cè)試范圍可在250G或5KG進(jìn)行選擇;芯片或CHIP推力測(cè)試范圍可在測(cè)試到0-100公斤;0-200KG比較常見(jiàn)。
該工作原理同樣適用于金球、銅球、錫球、晶圓、芯片、貼片元件、晶片、IC封裝、焊點(diǎn)、錫膏、smt貼片、貼片電容、以及0402/0603等元器件推力剪切力測(cè)試設(shè)備。