YAMADA山田光學(xué) 晶圓實驗設(shè)備燈管YP-150I

半導(dǎo)體晶圓檢查燈是半導(dǎo)體制造過程中的專業(yè)照明設(shè)備，專門設(shè)計用于晶圓生產(chǎn)過程中的缺陷檢測和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體工藝節(jié)點不斷縮?。◤奈⒚准壈l(fā)展到現(xiàn)在的納米級），對晶圓表面缺陷的檢測要求越來越高，專業(yè)的檢查照明系統(tǒng)成為確保芯片良率的關(guān)鍵因素之一。

現(xiàn)代半導(dǎo)體晶圓檢查燈采用優(yōu)良的光學(xué)技術(shù)和精密的光源設(shè)計，能夠提供均勻、穩(wěn)定且特定波長的高質(zhì)量照明，幫助檢測人員或自動光學(xué)檢測(AOI)系統(tǒng)識別晶圓表面的微粒污染、劃痕、圖案缺陷、殘留物等各種異常情況。這些設(shè)備通常集成在潔凈室環(huán)境中，滿足半導(dǎo)體制造對潔凈度和穩(wěn)定性的嚴(yán)苛要求。

半導(dǎo)體晶圓檢查燈的特點

1. 精密光譜控制

半導(dǎo)體晶圓檢查燈具備精確的光譜控制能力，可提供特定波長的單色光或多色光組合。不同波長的光對各類缺陷的顯現(xiàn)效果不同，例如短波長光（如紫外或深藍(lán)光）對微小顆粒和表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)更敏感，而長波長光可能更適合檢測某些薄膜缺陷。

2. 高均勻性照明

檢查燈設(shè)計確保照明區(qū)域內(nèi)的光強(qiáng)分布高度均勻，通常均勻性可達(dá)90%以上，避免因照明不均導(dǎo)致的檢測誤差。優(yōu)良的導(dǎo)光技術(shù)和光學(xué)擴(kuò)散系統(tǒng)是實現(xiàn)這一特性的關(guān)鍵。

3. 可調(diào)光強(qiáng)與穩(wěn)定輸出

設(shè)備提供寬范圍的光強(qiáng)調(diào)節(jié)功能，同時保持出色的光強(qiáng)穩(wěn)定性（通常波動小于1%），確保長時間檢測過程中的一致性，避免因光強(qiáng)波動導(dǎo)致的誤判。

4. 多角度照明設(shè)計

專業(yè)的晶圓檢查燈常配備多角度照明選項，包括同軸光、環(huán)形光、側(cè)向光、暗場照明等不同模式，以適應(yīng)不同類型缺陷的檢測需求。例如，同軸光適合表面污染檢測，而暗場照明對劃痕和拓?fù)淙毕莞舾小?/p>

5. 潔凈室兼容性

檢查燈采用無塵設(shè)計，材料選擇上避免產(chǎn)生微粒污染，符合ISO 14644-1潔凈室標(biāo)準(zhǔn)。同時具備低發(fā)熱特性，減少熱對流對潔凈室氣流的影響。

6. 智能化控制

現(xiàn)代設(shè)備配備數(shù)字控制系統(tǒng)，支持預(yù)設(shè)照明方案、自動調(diào)節(jié)、遠(yuǎn)程控制等功能，并能與自動檢測系統(tǒng)無縫集成，實現(xiàn)高效的工作流程。

YAMADA山田光學(xué) 晶圓實驗設(shè)備燈管YP-150I

YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素光源設(shè)備YP-150I  

YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素光源設(shè)備YP-250I  

YP-150I 高亮度鹵素射鏡

用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本山田光學(xué)YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡  

日本山田光學(xué)YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡

日本山田光學(xué)YAMADA高照度鹵素強(qiáng)光燈YP-150I/YP-250I

高亮度鹵素光源設(shè)備

是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

概要

　　1.　可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。

　　2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
　　　　

　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
　　　　

　　4.　二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
　　　　
　　　　YP-150I???照度範(fàn)囲　φ30
　　　　YP-250I???照度範(fàn)囲　φ60
　　　　（YP-250I的通風(fēng)機(jī)可選択螺旋式風(fēng)扇或管道通風(fēng)機(jī)形）

銷售各類日系工業(yè)品:tokyokeiso東京計裝（流量計），kofloc科賦樂（流量計），onosokki小野測器（汽車轉(zhuǎn)速表），yamada山田鹵素（強(qiáng)光燈）,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、CEDAR思達(dá)