電鍍測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片
| 參考價(jià) | ￥ 3000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱(chēng) 深圳市精誠(chéng)儀器儀表有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/5/4 17:33:56
- 訪問(wèn)次數(shù) 62
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車(chē)及零部件 |
電鍍測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片
用于校準(zhǔn)和檢驗(yàn)測(cè)厚儀的重要工具。
它具有已知的單位面積質(zhì)量或厚度的均勻覆蓋層。
-般來(lái)說(shuō)，選擇測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片時(shí)需考慮以下因素:
要求:應(yīng)根據(jù)測(cè)厚儀的厚度要求和實(shí)際測(cè)量需要選擇具有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)片。
2.覆蓋層和基體材料:標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料。然而，對(duì)于試樣基材為合金成分的情況，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
3.x射線發(fā)射(或吸收)特性:校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的 x射線發(fā)射(或吸收)特性。如果厚度由x射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的
X射線鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)塊校正片
MicroP XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)塊
通用型:可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌
用于校正鍍層測(cè)厚儀
標(biāo)準(zhǔn)曲線及添加應(yīng)用程序
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY測(cè)厚儀校正片標(biāo)準(zhǔn)片可訂制，均附帶標(biāo)準(zhǔn)證書(shū)
電鍍測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片
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