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金剛石厚度TTV測試儀

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導體檢測分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術(shù),替代進口產(chǎn)品,使半導體材料測試設(shè)備國產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗,申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設(shè)備提供商,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,航空航天,電氣

?金剛石厚度測試的方法主要包括以下幾種?:

  1. ?X射線檢?:將樣品放置在X射線檢測機的樣品室載物臺上,曲面朝上,用美工膠紙固定。調(diào)整工作電壓至90KV,工作電流100μA,選擇合適的放大倍數(shù)拍照、測量并保存數(shù)據(jù)。X射線檢測可以清晰地顯示金剛石復合片的邊界和各層厚度?1。

  2. ?超聲檢?:使用水浸超聲掃描顯微鏡設(shè)備進行檢測。將金剛石復合片放入設(shè)備探頭正下方,校準探頭及工件參數(shù),進行超聲檢測。超聲C掃描呈像可以清晰地顯示金剛石復合片的厚度和內(nèi)部缺陷情況,如裂痕和空洞等?2

  3. ?三維工業(yè)CT/X-RAY?:通過三維工業(yè)CT或X射線掃描設(shè)備,可以提供高精度的內(nèi)部缺陷檢測。這種方法適用于芯片和電子器件的內(nèi)部缺陷檢測,能夠精準定位內(nèi)部問題?





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