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汞CV測試MCV測試儀

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導(dǎo)體檢測分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術(shù),替代進口產(chǎn)品,使半導(dǎo)體材料測試設(shè)備國產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗,申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導(dǎo)體廠商的認(rèn)可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,電氣,綜合

是一款汞探針CV自動圖形掃描測量系統(tǒng)。它使用高頻CV測量分析系統(tǒng),可以對75mm、100mm、125mm、150mm、200mm(以及300mm)直徑的測試片進行測量和自動成圖。該系統(tǒng)采用的汞探針設(shè)計,從而允許測試片正面朝上,相比于傳統(tǒng)的汞探針測試系統(tǒng)將測試片正面朝下吸附在樣品臺上而言,該設(shè)計能夠避免在成圖測量時的表面沾污和破壞。探針的CV系統(tǒng)是一種雙極測試設(shè)備,兩個接口被分別連接在樣品的兩個電極上。實際的CV測試包括兩個方面:在樣品電極上施加反向(或正向)偏置電壓;測試兩個接口之間的電容。

金屬電極和耗盡區(qū)構(gòu)成一個極板電容,這和兩塊金屬板構(gòu)成的空氣電容類似。當(dāng)反偏電壓越來越大時,耗盡層越來越深,對應(yīng)的電容會越來越小。從測到的電容電壓數(shù)據(jù)對,我們可以分析計算出摻雜濃度隨深度的變化曲線。從得到的曲線可以進一步判斷摻雜濃度在深度分布上是否均勻等


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