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微型光澤儀 XS型：小口徑光澤儀適用于小部件表面測量，很多產(chǎn)品不僅是由不同的部件構(gòu)成，同時(shí)要求這些部件具有類似的表面外觀。造型優(yōu)美的設(shè)計(jì)已成為產(chǎn)品能否成功的重要因素，諸如手機(jī)、電腦或者家用電器。需要將小部件整合到大部件中并融為一體，例如框架、按鍵以及裝飾性的零部件。這些產(chǎn)品的大小和設(shè)計(jì)使它們很難用傳統(tǒng)的光澤儀進(jìn)行評(píng)估。微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測量口徑2x4mm，是測量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統(tǒng)一。額外新增的版本是增強(qiáng)型微型60°光澤儀XS-S,其技術(shù)性能適用于測量非常低光澤表面的產(chǎn)品。特殊應(yīng)用的光澤測量特殊的材料要求特殊的測量角度：陶瓷材料，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，紙張和硬紙板不僅可用 20°,60°, 85°常規(guī)角度進(jìn)行測量，也可按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)選擇45°或75°。微型光澤儀45°對(duì)于中低光澤產(chǎn)品，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，不論透明還是不透明材質(zhì)，通常都用45°角來測量。對(duì)于透光的薄膜，請(qǐng)用型號(hào)為5015的黑色耐擦洗實(shí)驗(yàn)板作為啞光黑色背景（174頁）墊于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測量會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤。標(biāo)準(zhǔn)的測量方法要求每個(gè)樣品至少測量三個(gè)點(diǎn)，以獲取光澤均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計(jì)測量模式，可顯示平均值和差值范圍或者顯示測量樣品的均質(zhì)性的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。微型光澤儀45°：特別應(yīng)用在陶瓷、塑料盒薄膜的光澤測量陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測量失光率可以對(duì)比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。

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德國BYK分光光度計(jì)性能參數(shù)表：

測量范圍：0-2000GU

重復(fù)性:0-100GU ±0.2GU;100-2000GU ±0.2%

重現(xiàn)性:0-100GU ±0.5GU;100-2000GU ±0.5%

光路：20°、60°、85°(高、中、低光澤)

測量面積：9X15mm

光譜敏感度:CIE standard observer for illuminant CIE-C

連續(xù)模式：實(shí)測值、平均值、最小值、最大值

差值模式：50個(gè)附有允差的標(biāo)準(zhǔn)記憶

統(tǒng)計(jì)模式：每個(gè)樣品測量點(diǎn)的個(gè)數(shù)從2-99可選擇三行顯示可選擇：實(shí)測值、  平均值、最小值、最大值、差幅值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、差值、合格/不合格

記憶：帶有日期和時(shí)間的999個(gè)讀數(shù)記憶功能

接口：串口RS232

軟件：easy-link

測量時(shí)間：0.5秒/角度

尺寸：160x60x30mm

重量:0.4kg

德國BYK4563三角度光澤儀標(biāo)準(zhǔn)配置：

主機(jī)、校準(zhǔn)底座、可追溯的證書、USB線纜，電池、操作手冊(cè)、攜帶箱。

可供下載的軟件:  smart-lab Gloss或  smart-process Gloss含2個(gè)許可證

注意：軟件下載后所有的軟件包可免費(fèi)試用30天。之后，用戶需決定并注冊(cè)其中一個(gè)軟件包。