美國(guó)惠普HP4275A電橋 LCR測(cè)試儀

二手LCR測(cè)試儀惠普HP4275A功能：惠普HP4275A電橋詳情：LCR測(cè)試儀惠普HP4275A報(bào)價(jià)：
HP4275A LCR電橋能快速測(cè)量電感L、電容C、電阻R、損耗因素D、品質(zhì)因素Q、電導(dǎo)G、電納B、電抗X和矢量阻抗|Z|及相位角θ,
其頻率范圍從100Hz到100kHz共13個(gè)可選頻率測(cè)試點(diǎn)。
測(cè)試電壓范圍為1mV～5Vrms, 適應(yīng)于電路設(shè)計(jì)、產(chǎn)品實(shí)驗(yàn)、質(zhì)量檢查多方面測(cè)量要求。
這種可變的測(cè)試信號(hào)為測(cè)量非線性阻抗元件，如電感和半導(dǎo)體器件帶來(lái)很大方便。
該儀表測(cè)量值用兩部分4?數(shù)字單元顯示，并可以把每10次測(cè)量值進(jìn)行平均后以5?數(shù)字顯示。另外，它還提供測(cè)試元件時(shí)的信號(hào)

電壓和施加電流3位數(shù)顯示，以便監(jiān)視測(cè)試時(shí)的電壓、電流情況。
該儀表的電容測(cè)試范圍為0.01fF～1999.0mF（1毫微微法拉=10-15法法法拉）, 電感為0.001nH～1999.9H, 電阻和阻抗為
0.001mΩ～19.999MΩ。所有測(cè)量精度為0.1%～10%, 這主要取決于測(cè)試信號(hào)的電壓和頻率。
測(cè)量電路既可以用并聯(lián)等效電路形式，也可以是串聯(lián)等效電路形式。
該儀表自動(dòng)校準(zhǔn)后，能使雜散電容減小到20pF，寄生電感減小到2000nH，電阻減小到0.5Ω,電導(dǎo)減小到5μs。 頻率范圍:100Hz - 100KHz
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二手惠普HP4275A LCR測(cè)試儀HP4275A電橋
HP4275A HP4275A 4278A技術(shù)指標(biāo)：
4278A測(cè)量參數(shù) C-D，Q，ESR，G
4278A測(cè)試信號(hào)
4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02%
信號(hào)電平： 0.1~1Vrms,±10%
(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)
測(cè)量時(shí)間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測(cè)量范圍 測(cè)量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式

美國(guó)惠普HP4275A電橋 LCR測(cè)試儀

LCR測(cè)試儀惠普HP4275A1MHz高精度
4278A電纜長(zhǎng)度補(bǔ)償 0,1或2m
Agilent 4278A比較器：對(duì)電容的10倉(cāng)室分類，
對(duì)D、Q、ESR和G的合格/不合格測(cè)試
存儲(chǔ)卡插槽 外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用
于對(duì)控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用
（存儲(chǔ)卡可任選，參見下面的選件004）。
4278A一般技術(shù)指標(biāo)Agilent 4278A