微小孔及小間隙內(nèi)壁粗糙度儀
- 公司名稱 永鑫企業(yè)
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2017/8/7 22:26:55
- 訪問(wèn)次數(shù) 388
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粗糙度 書寫的靈敏性
總體變形 抗書寫及抗切削性
彈性和可塑性 觸覺(jué)性及柔軟度
材料致密性 抗摩擦抗刮性
微硬度及組織結(jié)構(gòu) 微摩擦系數(shù)
涂層厚度及結(jié)構(gòu) 松弛及衰減性
微小孔及小間隙內(nèi)壁粗糙度儀
為了實(shí)時(shí)對(duì)準(zhǔn)被測(cè)孔,本儀器配備了3個(gè)自動(dòng)旋轉(zhuǎn)軸及3個(gè)自動(dòng)轉(zhuǎn)換軸。
由微量鎢和碳纖維組成的傳感器,能實(shí)現(xiàn)內(nèi)部形貌的精密測(cè)量。這歸功于本公司在框架結(jié)構(gòu)下開(kāi)發(fā)的LVDT技術(shù)。
技術(shù)規(guī)格 | |
X,Y,Z 軸范圍 (mm) | Up to 200 x 200 x 200 (motorized) |
解析度 (μm) | 0.5 (0.1 in option) |
形貌的直線度 | Up to 0.6 μm x 200 mm |
尺寸 | L900 x W710 x H1980 |
重量 (kg) | 650 |
PheNIX技術(shù) | 由ALTIMET公司開(kāi)發(fā),同時(shí)滿足工廠及實(shí)驗(yàn)室使用 |
zui大檢測(cè)速度 | 250 μm / s |
探針 | AltiProbe NEEDLE |
原理 | 特殊設(shè)計(jì)的感應(yīng)傳感器 |
范圍 | 150 μm to 1.5 mm |
垂直解析度 | 2 to 60 nm |
側(cè)面解析度 | 2 μm stylus radius – diameter of 35 μm |
頻率 | up to 30 KHz |
探針 | AltiProbe CLA |
原理 | 白光CLA (Chromatic Light Aberration) |
范圍 | Modular confocal optical probeof 300 μm |
垂直解析度 | 6 to 600 nm (accuracy: 20 nm to 3 μm) |
側(cè)面解析度 | up to 1.1 μm |
探針 | AltiProbe Inductive |
原理 | 標(biāo)準(zhǔn)電感傳感器或特定的觸針 |
范圍 | 150 μm to 1.5 mm |
垂直解析度 | 2 to 60 nm |
側(cè)面解析度 | 2 μm stylus radius 60°or 90° or customized |
配備 | |
分析軟件 | Altimap suite: Lab to line interface (control card). Self macro analysis |
CCD Camera | 測(cè)量區(qū)域的觀察和選擇 Zoom up to x1200 |