LC15DX NIKON 激光掃描測頭
- 公司名稱 北京新卓儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào) LC15DX
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2016/7/29 12:20:38
- 訪問次數(shù) 318
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
LC15DX 
革命性第三代激光掃描測頭
精度可媲美接觸式測頭
LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機(jī)應(yīng)用。該機(jī)器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。
優(yōu)點(diǎn)
精度可媲美接觸式測頭
采用激光掃描測頭技術(shù)的 LC15Dx 達(dá)到了與接觸式測頭同級(jí)別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中，LC15Dx 達(dá)到了與使用三坐標(biāo)測量機(jī)和接觸式測頭相當(dāng)?shù)木?。但與接觸式測頭不同的是，LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補(bǔ)償誤差。掃描測頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器，可解決激光掃描測頭在未達(dá)到工作溫度時(shí)容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問題。
操作輕松的多功能掃描
尼康*的 ESP3 技術(shù)可針對每個(gè)測量點(diǎn)實(shí)時(shí)智能調(diào)整激光設(shè)定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且無需用戶干預(yù)、手動(dòng)調(diào)節(jié)以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射，而高級(jí)日光濾光片則可吸收環(huán)境光。
更高的產(chǎn)品質(zhì)量檢測水準(zhǔn)
全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個(gè)部件可與 CAD 模型進(jìn)行對比檢查，并用色彩映射高亮顯示需要關(guān)注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差（GD&T）庫進(jìn)行進(jìn)一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設(shè)備自動(dòng)生成或簡易或詳細(xì)的測量報(bào)告。
軟件
適合各類應(yīng)用的直觀軟件
LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi)，適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。
重要功能包括：
• CAD 編程 • 多傳感器三坐標(biāo)測量機(jī)
• *擬合 • 離線編程
• 部件與 CAD 對比 • 點(diǎn)云測量
• 特征檢測 • GD&T 庫
• 葉片分析 • 教學(xué)編程
• 色彩報(bào)告 • 離線模擬
應(yīng)用
測量高精度部件和小型幾何體
LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體（包括精細(xì)部件、半鋼性部件和高性能材料）時(shí)具有顯著優(yōu)勢：
處理：生產(chǎn) － 研發(fā) － 逆向工程
方法：機(jī)械加工 － 模塑 － 模壓 － 澆鑄 － 鍛造
材料：金屬 － 塑料 － 橡膠 － 陶土 － 陶瓷 － 合成材料
表面處理：機(jī)械加工 － 拋光 － 電鍍 － 油漆 － 混色
結(jié)構(gòu)： 剛硬 － 柔軟 － 柔韌 － 易碎
特征： 表面 － 幾何特征 － 剖面 － 截面
多傳感器三坐標(biāo)測量機(jī)
結(jié)合激光掃描和接觸式探測
某些情況下，采用單傳感器技術(shù)無法測量所有特征。LC15Dx 可結(jié)合使用選購的接觸式測頭構(gòu)成多傳感器三坐標(biāo)多功能測量機(jī)。根據(jù)應(yīng)用需求，可在相同的檢測項(xiàng)目中單獨(dú)或共同使用這兩項(xiàng)技術(shù)。在三坐標(biāo)測量機(jī)平臺(tái)上加裝切換和存儲(chǔ)支架選購件后，可以自動(dòng)切換傳感器。
升級(jí)改造
提升當(dāng)前三座標(biāo)測量機(jī)的能力
使用 LC15Dx 來改進(jìn)您當(dāng)前的三座標(biāo)測量機(jī)是一種低成本高收益的解決方案。這種改進(jìn)基于現(xiàn)有的三座標(biāo)測量機(jī)控制器硬件，附之以兼容的*測頭系統(tǒng)，構(gòu)成可進(jìn)行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標(biāo)多功能測量機(jī)。
LC15Dx 改進(jìn)套件可用于以下三座標(biāo)測量機(jī)控制器系統(tǒng)。
• Aberlink • Hexagon DEA • Renishaw
• Deva • Hexagon Brown & Sharpe • Wenze
• Coord3 • Hexagon Sheffield • Werth
• Dukin • Mitutoyo • Zeiss
規(guī) 格
| 探測誤差（MPEP）1 | 2.5μm （0.0001in） |
| 多測針測試（MpeAL）2 | 6μm （0.00024in） |
| 分辨率（點(diǎn)距） | 22μm （0.00087in） |
| 數(shù)據(jù)采集（近似值） | 70,000 點(diǎn)／秒 |
| 每線點(diǎn)數(shù)（近似值） | 900 |
| 測量溫度范圍 | 18-22°C （64.4-71.6°F） |
| 工作溫度范圍 | 10-40°C （50-104°F） |
| 預(yù)熱時(shí)間 | 0（零）秒 |
| 重量 | 370g （13oz） |
| 防護(hù)等級(jí) | IP30 |
| 電源 | 110/240VAc, 50/60Hz 5A |
| 增強(qiáng)掃描測頭性能（ESP3） | √ |
| 日光濾光片 | √ |
| 測頭兼容性3 | PH10M, PH10MQ, CW43, PHS |
| 激光類型 | 2 類（670μm） |
采購中心
化工儀器網(wǎng)