美國(guó)Anasys儀器公司的AFM+可以提供完整的原子力顯微功能，具有強(qiáng)大的分析能力，使得AFM不再僅僅是一個(gè)成像工具。主要優(yōu)勢(shì)方面:

完整的AFM工作模式

l  包含所有常規(guī)成像模式

l  高分辨率低噪音的閉環(huán)成像

安裝與操作便捷

l  AFM+只為zui便利的使用而設(shè)計(jì)制造。預(yù)裝的懸臂能夠快速簡(jiǎn)便的完成對(duì)齊。

l  可自動(dòng)運(yùn)行的試樣平臺(tái)和高質(zhì)量的棱鏡使得對(duì)特定區(qū)域的快速定位分析成為可能

l  儀器設(shè)計(jì)集幾十年的AFM技術(shù)成就，即使新手使用也能快速獲取結(jié)果。

由美國(guó)Anasys儀器公司科研團(tuán)隊(duì)所開(kāi)發(fā)的強(qiáng)大的納米級(jí)定位分析技術(shù)

l  熱學(xué)性能：具有保護(hù)的ThermaLever探針能夠提供納米熱分析

l  機(jī)械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機(jī)械分析

l  化學(xué)性能：能升級(jí)增加了納米紅外光譜，可實(shí)現(xiàn)局部化學(xué)組分分析

AFM+  熱分析

納米熱分析（nano-TA）模式

基于我們所*的熱探針技術(shù)，AFM+可以使你獲得樣品任何特征區(qū)域的轉(zhuǎn)變溫度（熔點(diǎn)或玻璃轉(zhuǎn)化溫度）或者轉(zhuǎn)變溫度的掃描圖。

上圖為調(diào)色劑顆粒的nano-TA數(shù)據(jù)及其AFM圖像。將顆粒內(nèi)嵌在環(huán)氧樹(shù)脂中然后進(jìn)行超薄切片便可得到試樣。試樣的形貌圖顯示了其結(jié)構(gòu)上的多樣性，而這些可以用nano-TA進(jìn)行分析。這是因?yàn)檎{(diào)色劑顆粒包含了大量存在不同的轉(zhuǎn)變溫度的組分（石蠟，樹(shù)脂，染料等等）。

掃描熱顯微鏡（SThM）模式

AFM+的這一模式允許用戶(hù)將試樣的導(dǎo)熱系數(shù)和溫度梯度成比例的進(jìn)行成像分析。

上圖所示的是利用AFM+系統(tǒng)的掃描熱顯微鏡功能所繪制的碳纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹(shù)脂復(fù)合材料的圖像，其中表征區(qū)域大小為4μm×8μm。測(cè)試前，需要對(duì)試樣進(jìn)行切削打磨以形成一個(gè)光滑的平面。高度影像（左側(cè)）顯示了若干根碳纖維，而SThM圖像（右側(cè)）則顯示了在兩個(gè)材料上探針溫度的變化。這是由兩種材料不同的導(dǎo)熱系數(shù)所產(chǎn)生的。這個(gè)例子充分展示了SThM技術(shù)的高橫向分辨率。

轉(zhuǎn)變溫度顯微鏡模式

轉(zhuǎn)變溫度顯微鏡（TTM）是一個(gè)全自動(dòng)化模式。它能夠快速的完成一系列nanoTA測(cè)試，并自動(dòng)分析溫度變化曲線(xiàn)獲得試樣的轉(zhuǎn)變溫度。

上圖是具有紋理結(jié)構(gòu)的左旋聚乳酸球粒（PLLA）的光學(xué)圖像和TTM圖像。TTM圖像由XY移動(dòng)載物臺(tái)繪制而成。TTM圖像中的藍(lán)色區(qū)域代表PLLA的無(wú)定形區(qū)，而紅色和黃色則是結(jié)晶區(qū)。在結(jié)晶過(guò)程中反復(fù)改變溫度會(huì)導(dǎo)致結(jié)晶度的高低變化，zui終形成了洋蔥狀結(jié)構(gòu)的球粒。該樣品是由東京技術(shù)研究所的J. Morikawa提供。

可升級(jí)的擴(kuò)展分析能力

AFM+IR 光譜

l  點(diǎn)擊式的納米紅外光譜

l  與FTIR譜庫(kù)相對(duì)應(yīng)的紅外光譜

l  化學(xué)成像

上圖為鏈霉菌的形貌圖以及在1650cm^-1和1740cm^-1處的紅外掃描圖。在生長(zhǎng)后期，這些細(xì)菌形成了充滿(mǎn)脂質(zhì)的囊泡。因此，通過(guò)分析1740cm^-1處的脂類(lèi)特征吸收峰，研究人員可以確定這些囊泡的位置。nanoIR的分辨率能夠達(dá)到100nm以下。

AFM+  機(jī)械性能分析

采用接觸共振法，AFM+能夠檢測(cè)到材料的硬度變化及其表面形貌，從而反映試樣的機(jī)械性能。

上圖為三元共混聚合物的形貌圖和硬度掃描圖。通過(guò)分析懸臂的接觸共振能夠檢測(cè)到模量的變化從而繪制出硬度掃描圖。從硬度掃描圖中能夠清楚的區(qū)分開(kāi)三種材料。

多功能納米檢測(cè)工具

新一代AFM+可以全面升級(jí)到nanoIR系統(tǒng)——一款基于探針且可利用紅外光譜在納米尺度下表征試樣化學(xué)組成的檢測(cè)工具。nanoIR也可對(duì)特定區(qū)域的形貌，機(jī)械性能和熱性能進(jìn)行高分辨率表征。nanoIR的潛在應(yīng)用領(lǐng)域橫跨聚合物科學(xué)，材料科學(xué)和生命科學(xué)以及對(duì)結(jié)構(gòu)和性能相關(guān)性的深入研究等方面。

上圖為nanoIR系統(tǒng)的多功能檢測(cè)示例。試樣是由聚乙烯和聚丙烯構(gòu)成的多層結(jié)構(gòu)薄膜。根據(jù)它們特定的吸收譜帶，nanoIR系統(tǒng)能夠清楚的區(qū)分開(kāi)這兩種材料。此外，nanoIR也能夠檢測(cè)出兩種材料不同的硬度和轉(zhuǎn)變溫度。